台式薄膜探针反射仪 FTPadv
简易的膜厚测量 通过选择合适的配方,FTPadv反射仪以小于100ms的测量速度、精度小于0.3nm、厚度范围为50nm-25μm的精度进行厚度测量。独特的自动建模 通过测量反射光谱和光谱数据库的比较,将测量误差减到很小。光谱椭偏SE为基础的材料数据库 基于SENTECH精确的椭偏光谱测量的大型材料库为测量新材料的光学常数提供了配方。应用 二十年来,S...
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- FTPadv
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- / 薄膜测量仪器 / 反射膜厚仪 / 台式薄膜探针反射仪FTPadv FTPadv