辐射检测仪器AMETEK ORTEC型号 康普顿抑制计数系统
更多信息 + 康普顿抑制系统基础 在典型的低本底应用系统中,为了降低计数系统部件(探测器、铅屏蔽和屏蔽室内的空气)的固有放射性,我们付出了极大的努力。在高纯锗谱系统中,这些低本底测量系统,更多的我们倾向于较少宇宙射线本底和自然环境本底
- 应该选择的特性
- 不应该选择的特性
- HPGe外部接触级
- 超薄的外部接触级:使用一个ORTEC Gamma-X (GMX) 探测器,N型晶体,外部的接触级厚度只有0.3微米硼。/ 标准P型探头:P型探测器,比如GEM探测器和优化型GEM-M探测器,拥有一个较厚的外部接触级(~600微米的锂注入层)。这个接触级是Gamma-X N型探测器的接触级厚度的三倍。这会导致散射射线被阻挡的概率大大增加。能量延展P型高纯锗探测器:能量延展P型探测器,如优化型GEM-C,只有在探测器前端拥有超薄的入射窗。但侧面被较厚的锂离子注入层包裹,所以标准的P型探测器
- 高纯锗晶体支撑杯
- 低密度支撑杯:ORTEC使用0.5mm厚度的,低本底铝材质的支撑杯。在标准的探测器制造中。/ 铜材料支撑杯:由于铜具有较高的材料密度和质量吸收系数,应该避免使用铜作为晶体支撑杯。这大大降低了散射光子进入符合探测器大的概率。
- 探测器端盖
- 低密度端盖:1.5mm厚的碳纤维端盖或低本底铝端盖配备碳纤维窗。/ 镁端盖:镁材料比铝材料具有更高的质量吸收系数,大大增加了射线与物质相互作用的概率。使得散射射线进入符合探测器的概率降低。铜端盖:与铜支撑杯一样,应该避免在低本底计数系统中使用铜材质的端盖。