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PinAAcle 900 Series AA Spectrometers
PinAAcle 500 Flame Atomic Absorption Spectrometer。Featured Products INSTRUMENT INSTRUMENT PinAAcle 500 Flame Atomic Absorption Spectrometer Previous Next 1 2...
- 产品类别
- 原子吸收光谱仪
显微镜、成像系统、光学平台与光学测量设备
材料表征、热分析、力学、粒度、表面和物性测试设备
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Spectrum 3 Tri-Range MIR/NIR/FIR Spectrometer。Spectrum 3 Tri-Range MIR/NIR/FIR Spectrometer Instrument Instrument Spotlight 400 FT-IR Imaging System Instrume...
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Spotlight 200i FT-IR Microscopy System with Spectrum Two。Spotlight 200i FT-IR Microscopy System with Spectrum Two Instrument Previous Next 1 2 3 Instrument S...

Spotlight 200i FT-IR Microscopy System with Spectrum Two。Featured Products Instrument Instrument Spotlight 200i FT-IR Microscopy System with Spectrum Two Ins...
是样品热水解燃烧的核心单元,这是后续离子色谱分析的准备工作。
棒式搅拌器,用于连接至 OMNIS Titrator(电缆长度为 1.1 米)。
智能型单机检测器装配一台高效能电导检测器 IC Conductivity Detector。与智能型离子色谱仪器联合使用,或作为独立的电导检测器使用。2.945.0010
高分辨率X射线衍射(HRXRD)与X射线反射(XRR)系统,可实现非图案化外延薄膜的厚度、密度、表面/界面粗糙度、成分分布、应变、弛豫状态及倒易空间映射(RSM)的多维度表征。系统具备全晶圆映射能力,可覆盖直径达300mm的晶圆,适用于半导体制造的近厂(Near-Fab)应用场景。
X射线形貌(XRT)成像系统,可针对功率电子、光电子及5G/6G通信领域的核心半导体材料(碳化硅(SiC)、氮化镓(GaN)、砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、氧化镓(Ga₂O₃))开展单晶缺陷可视化表征,支持直径达300mm的晶圆测试。
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一款新型全集成电子衍射仪,用于测量亚微米级晶体,支持从数据采集到晶体结构确定的体系化工作流程。产品线:Single Crystal、Electron Diffraction

8860 GC 是面向常规气相色谱分析的稳定型系统,可配置进样口、阀和检测器,并支持单四极杆质谱联用。

990 微型 GC 是用于气体分析的紧凑型气相色谱系统,可用于实验室、在线、近线或现场分析。
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