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BeNano Zeta 电位分析仪

BeNano Zeta 电位分析仪

BeNa no Zeta 电位分析仪是丹东百特仪器公司开发的测量颗粒体系 Zeta 电位的光学检测系统。BeNano Zeta 系统基于电泳光散射原理,样品分散在样品池中,在样品池两端施加一个电场,通过激光照射到电场中的样品上,光电检测器在 12°角检测样品颗粒电泳运动造成的散射光的多普勒频移,进而得到体系的 Zeta 电位信息。基本性能指标 1、Za...

品牌: 丹东百特仪器 / Bettersize Instruments价格: 面议服务区域: 全国

广西科米瑞实验仪器设备有限公司生产销售 丹东百特仪器 / Bettersize Instruments BeNano Zeta 电位分析仪,可提供产品参数、报价和售后服务咨询,价格面议。

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BeNano 90 纳米粒度分析仪

产品介绍 BeNa no Zeta 电位分析仪是丹东百特仪器公司开发的测量颗粒体系 Zeta 电位的光学检测系统。BeNano Zeta 系统基于电泳光散射原理,样品分散在样品池中,在样品池两端施加一个电场,通过激光照射到电场中的样品上,光电检测器在 12°角检测样品颗粒电泳运动造成的散射光的多普勒频移,进而得到体系的 Zeta 电位信息。基本性能指标 1、Zate电位测试 Zeta范围 无实际限制 原理 相位分析光散射PALS 电泳迁移率范围 > ±20 μ.cm/V.s 电导率范围 0 - ≥270 mS/cm * Zeta测试粒径范围 1 nm – >120 μm * 2、趋势测试 温度趋势 Zeta电位随温度变化趋势 时间趋势 Zeta电位随时间的变化趋势 pH值趋势 Zeta电位随pH值的变化趋势 * 3、系统参数 温控范围 -15°C - 120°C 冷凝控制 干燥空气或者氮气 激光器 高性能固体激光器,波长671nm(不同波长激光器可选) 相关器 快、中、慢多模式,最快25 ns采样,最多 4000通道,10 11 动态线性范围 检测器 APD 光强控制 0.0001% -100%,自动或手动控制 * 依赖于样品和选件 检测参数 ●Zeta 电位 ● Zeta 电位分布 ●电导率 检测技术 ●电 泳光散射 选配件 ● BAT-1自动滴定仪 样品的Zeta电位和粒径对于分散液介质环境具有强烈的依赖性,尤其是环境pH,不但影响Zeta电位的大小,而且会影响颗粒体系的带电符号。BAT-1自动滴定仪与BeNano系列连用,内置三个高精度滴定泵和一个样品输送泵,具有样品搅拌能力,可以对于样品的粒径和Zeta电位进行自动化的酸碱滴定测试,具有测试效率高、精确定量、重复性好、结果不依赖于操作者等特点。由于盛放样品的样品管可抛弃,避免了交叉污染的风险。● BeScan稳定性分析仪 BeScan稳定分析仪是基于多重光散射原理的样品稳定性分析设备,通过检测得到样品随空间分布、时间、温度的不稳定性变化,并给出不稳定性指数I US,粒子迁移速度及样品粒径随时间的变化曲线等信息。BeScan灵敏的光学系统可以给出超过肉眼200倍以上的灵敏度,能更好的洞悉样品的微观结构变化,从而极大的节约检测时间,缩短配方研制周期。BeScan与BeNano联合使用,通过定量的I US 和Zeta电位信息研究样品的变化及其原因。相关技术 相关应用 更多+ BeNa no Zeta 电位分析仪是丹东百特仪器公司开发的测量颗粒体系 Zeta 电位的光学检测系统。BeNano Zeta 系统基于电泳光散射原理,样品分散在样品池中,在样品池两端施加一个电场,通过激光照射到电场中的样品上,光电检测器在 12°角检测样品颗粒电泳运动造成的散射光的多普勒频移,进而得到体系的 Zeta 电位信息。高性能固体激光器,波长671nm(不同波长激光器可选) 快、中、慢多模式,最快25 ns采样,最多 4000通道,10 11 动态线性范围 0.0001% -100%,自动或手动控制 样品的Zeta电位和粒径对于分散液介质环境具有强烈的依赖性,尤其是环境pH,不但影响Zeta电位的大小,而且会影响颗粒体系的带电符号。BAT-1自动滴定仪与BeNano系列连用,内置三个高精度滴定泵和一个样品输送泵,具有样品搅拌能力,可以对于样品的粒径和Zeta电位进行自动化的酸碱滴定测试,具有测试效率高、精确定量、重复性好、结果不依赖于操作者等特点。由于盛放样品的样品管可抛弃,避免了交叉污染的风险。BeScan稳定分析仪是基于多重光散射原理的样品稳定性分析设备,通过检测得到样品随空间分布、时间、温度的不稳定性变化,并给出不稳定性指数I US,粒子迁移速度及样品粒径随时间的变化曲线等信息。BeScan灵敏的光学系统可以给出超过肉眼200倍以上的灵敏度,能更好的洞悉样品的微观结构变化,从而极大的节约检测时间,缩短配方研制周期。BeScan与BeNano联合使用,通过定量的I US 和Zeta电位信息研究样品的变化及其原因。

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