D8 ADVANCE Plus
D8 ADVANCE Plus
具有最大的灵活性，为您带来前所未有的易用性。是D8 ADVANCE的又一版本，是面向多用途、多用户实验室的终极版X射线平台。它可理想地满足您对所有样品类型的需求，包括粉末、块状材料、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）：
广西科米瑞实验仪器设备有限公司生产销售 Bruker D8 ADVANCE Plus，可提供产品参数、报价和售后服务咨询，价格面议。
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D8 ADVANCE Plus：多用途材料研究
D8 ADVANCE Plus：具有最大的灵活性，为您带来前所未有的易用性
D8 ADVANCE Plus是D8 ADVANCE的又一版本，是面向多用途、多用户实验室的终极版X射线平台。它可理想地满足您对所有样品类型的需求，包括粉末、块状材料、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）：
典型的X射线粉末衍射（XRD）
对分布函数（PDF）分析
小角X射线散射（SAXS）和广角X射线散射（WAXS）
X射线反射率（XRR)和高分辨XRD（摇摆曲线，倒易空间扫描）环境条件下和非环境条件下
该系统的一大优势在于它能够在多达6种不同的光束几何之间进行切换：从用于粉末的Bragg-Brentano聚焦几何到用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1几何以及两者之间的切换。您只需按下按钮，整个软件尽在掌握。
无论您使用的样品类型和想要何种应用，无论您是新手用户还是专家用户，皆适用于此：D8 ADVANCE Plus具有无与伦比的灵活性和易用性，在数据质量方面，树立全新基准。
获得专利的TRIO光路简化了D8 ADVANCE的操作，使之适用于多种应用和样品类型。为便于用户使用，该系统提供了自动化电动切换功能，可在多达6种不同的光束几何之间进行自动切换。系统无需人工干预，即可在三个光路之间切换：
用于粉末分析的Bragg-Brentano聚焦几何
用于毛细管、GID和XRR的高强度平行光束Kα1,2几何
用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1几何
它非常适合在环境条件或非环境条件下对所有样品类型进行分析，其中包括粉末、块状材料、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）。
阅读关于TRIO光路的更多信息
紧凑型UMC和紧凑型尤拉环plus样品台能够精确地移动样品，因此扩展了D8 ADVANCE Plus的样品处理能力。紧凑型UMC样品台可对2Kg的样品进行电动移动：X轴25mm、Y轴70mm和Z轴52mm，可用于分析大型块状样品或多个小样品；紧凑型尤拉环plus样品台的Phi旋转角度不受限制，Psi倾斜度在-5°到95°之间，可用于应力、织构和外延薄膜分析。另外，它还具有真空多用途通孔，可通过小型薄膜样品架或大型手动X-Y样品台，将样品固定在适当位置。二者均可用于温控样品台，进行非环境分析。另外，它们还可借助DIFFRAC.DAVINCI样品台卡口安装系统，轻松更换样品台。
阅读有关材料研究样品台的更多信息
EIGER2 R 具有多模式功能（0D-1D-2D、快照和扫描模式），覆盖了从粉末研究到材料研究的多种测量方法。EIGER2并非传统意义上的万金油，而是所有分析应用领域的专家。其可实现无吸收测量的动态范围、用于超快粉末测量和快速倒易空间扫描的1D大尺寸以及超过500k像素的2D大覆盖范围，都为多模式探测器树立了新标准。EIGER2采用了DECTRIS 公司研发的光束探测器技术，整合了布鲁克的软件和硬件，最终可为您带来无缝易用的解决方案。
阅读有关EIGER2 R 500K的更多信息
DAVINCI 设计
动态光束优化（DBO）
LYNXEYE XE-T
为您打造合规实验室的解决方案
X射线粉末衍射（XRPD）技术是最重要的材料表征工具之一。粉末衍射图中的许多信息，直接源于物相的原子排列。在D8 ADVANCE和DIFFRAC.SUITE软件的支持下，您将能简单地实施常见的XRPD方法：
鉴别晶相和非晶相，并测定样品纯度
对多相混合物的晶相和非晶相进行定量分析
微观结构分析（微晶尺寸、微应变、无序…）
热处理或加工制造组件产生的大量残余应力
织构（择优取向）分析
指标化、从头晶体结构测定和晶体结构精修
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