蔡司Xradia Context MicroCT 业内先进的MicroCT平台

蔡司Xradia Context MicroCT 业内先进的MicroCT平台

蔡司Xradia Context®微型计算机断层扫描（microCT）系统易于使用，适用于分析各种类型的样品。即使在成像体积较大的情况下，高阵列探测器也能实现精细结构的高分辨率。该系统具有大观察视野、快速的样品安装和对齐、简化的采集工作流以及快速曝光和数据重构的特点。

获取整个电子元件、大材料样品或生物样品的三维数据

执行无损失效分析，以识别内部缺陷，无需切割样品或工件

表征和量化决定性能的地质样品中的异质性，如孔隙率、裂纹、夹杂物、缺陷或多相

通过非原位处理或原位样品操作，进行四维演变研究

连接至蔡司关联显微镜环境并进行无损三维成像，以识别感兴趣区域，用于后续分析

Xradia Context为您提供出色的图像质量、稳定性和易用性，且具备高效的工作流环境和高通量的扫描

使用600万像素的高像素密度探测器，即使对于较大的成像体积，也可在三维全景下分辨精细结构

无损三维显示深埋结构，用于进行过程分析、结构分析和失效分析

小样品以大倍率几何放大时仍具有高衬度和高清晰度，可识别和表征微米级结构

充分利用简化的采集工作流、快速曝光和数据重构的优势

完整的催化转化器内部的虚拟剖视图

基于久经考验的Xradia平台

Xradia Context microCT基于与Xradia Versa系列相同的平台，多年的研发和久经考验的稳定性将为您带来极大优势

从旨在推进高分辨率、高质量数据采集和重构的系统中获益

操作简便的定位和扫描（Scout-and-Scan）控制系统为您提供高效的工作流环境

借助可选配的Autoloader快速安装和对齐样品或扩展系统，实现多达14个样品的自动操控和顺序扫描

使用原位套件，进行四维和原位研究，以测定不同条件下材料微观结构的变化

配备高级重构工具箱，实现更快的处理速度和出色的图像质量

Context microCT对整个智能手表进行扫描成像。

可转换为Xradia Versa显微镜（XRM）

随着您成像需求的不断提高，您的设备也要不断提升。Xradia Context已加入蔡司X射线成像产品组合，您将从蔡司持续致力于在该领域扩展系统能力和功能的承诺中受益。

这为能够随时根据需求扩展三维断层扫描成像打开了大门：您的Xradia Context microCT可随时转换为CrystalCT或5XX平台，直至蔡司Xradia 620 Versa三维X射线显微镜（XRM）。

熊下颌骨的完整观察视野成像

电子元件 智能音箱的三维Context microCT扫描图像。在选定的观察视野下以超高分辨率无损三维显示各种尺寸样品的深埋结构和缺陷。

智能音箱的三维Context microCT扫描图像。在选定的观察视野下以超高分辨率无损三维显示各种尺寸样品的深埋结构和缺陷。

制造业 灯泡的三维渲染。Context可用于执行完整样品的扫描，以检查内部结构或识别制造件缺陷。

灯泡的三维渲染。Context可用于执行完整样品的扫描，以检查内部结构或识别制造件缺陷。

生命科学 石蜡包埋小鼠胚胎的三维渲染剖视图。高衬度的成像结果使得内部结构清晰可见。样品由麻省总医院提供。

石蜡包埋小鼠胚胎的三维渲染剖视图。高衬度的成像结果使得内部结构清晰可见。样品由麻省总医院提供。

地球科学 非均质岩石样品的虚拟截面视图，展示其多个矿物相和孔隙率。

非均质岩石样品的虚拟截面视图，展示其多个矿物相和孔隙率。

材料科学 多次充放电和拆封后的锂离子电池的虚拟截面视图，展示集流体和正极层中的损坏。样品由亚琛工业大学ISEA的D. U. Sauer教授和E. Figgemeier教授提供

多次充放电和拆封后的锂离子电池的虚拟截面视图，展示集流体和正极层中的损坏。样品由亚琛工业大学ISEA的D. U. Sauer教授和E. Figgemeier教授提供

金属 涡轮叶片快速扫描结果的三维渲染，用于评估几何参数和检查内部缺陷或裂纹。

涡轮叶片快速扫描结果的三维渲染，用于评估几何参数和检查内部缺陷或裂纹。

基于成熟技术的图像质量 Xradia Context microCT建立在久经考验的成熟Xradia Versa平台之上。基于成熟技术的图像质量 体验出色的衬度和图像清晰度，轻松区分不同的相和特征结构，以支持下游的数据分割和量化。良好的数据质量取决于许多因素，包括X射线源特性、光束能量调谐、探测器几何尺寸和灵敏度、环境控制、运动和振动稳定性、细致的系统校准以及重构精度。Xradia Context microCT建立在与久经考验的Xradia Versa X射线显微镜系列相同的平台上，继承了同样的优势，使Xradia Versa成为了实验室高性能三维X射线成像领域的标杆。出色的高纯度X射线滤光片，可根据样品进行射线硬化控制 强大的自动漂移校正模式 先进的射线硬化去除算法 先进的特殊算法保证获取优秀的成像质量

Xradia Context microCT建立在久经考验的成熟Xradia Versa平台之上。

体验出色的衬度和图像清晰度，轻松区分不同的相和特征结构，以支持下游的数据分割和量化。