DM8000 M 和 DM12000 M 光学检测系统
DM12000 M
利用 更深入地了解样本，从而改进产品质量决策，并节省时间。这些检测显微镜可对半导体和晶圆等材料进行快速、可靠的检测和分析，使您能够快速进行质量控制并检测缺陷。快速检测缺陷并进行样本概览，以改进分析和决策
广西科米瑞实验仪器设备有限公司生产销售 Leica Microsystems DM12000 M，可提供产品参数、报价和售后服务咨询，价格面议。
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利用 DM8000 M 和 DM12000 M 光学检测系统更深入地了解样本，从而改进产品质量决策，并节省时间。
这些检测显微镜可对半导体和晶圆等材料进行快速、可靠的检测和分析，使您能够快速进行质量控制并检测缺陷。
快速发现缺陷，改善决策
快速检测缺陷并进行样本概览，以改进分析和决策。
快速概览样本，节省时间
要检测高度超过 42 毫米的高大样本，显微镜可以配备一个“材料版”入射光轴。使用该轴时，对高度较低的样本进行检测将需要一个载物台插件。
刻蚀图案的晶圆的明场图像
自动化和简便的操作可最大程度减少调整需求，从而在检测过程中节省宝贵时间。
通过自动化减少了调整次数
通过简便的操作来检查样本
简单直观的对焦功能可帮助您快速、自信地检查样本。
对于具有高反射性表面的样本，例如裸晶圆，可使用焦点搜索器轻松快速地对焦。
对于不同高度的样本，可使用垂直范围较大的内置对焦限位装置，以保护样本免遭意外损坏。
在安全可控的环境中保持用户舒适度
以放松的姿势工作，确保在整个检测过程中保持舒适，帮助提高工作效率。
舒适地工作，提高工作效率
DM8000 M 和 DM12000 M 显微镜采用符合人体工学的设计，并提供自动化功能，让您在操作时不会感到疲劳，帮助您集中精力观察样本，尤其是在进行重复性检查时。
专为安全可控的环境而设计
当您需要检测任务关键型组件时，DM8000 M 和 DM12000 M 可在洁净室中使用。
封装的电动转盘专为要求苛刻的环境条件而设计。
对于洁净室，该显微镜的设计可优化其周围的气流，确保层流保持不受干扰。
DM8000 M / DM12000 M 手动款
选择手动解决方案可满足以下需求：
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