EM TXP 横截面切割设备
EM TXP
精密机械横截面切割装置，专为目视检测需求精准修整样本尺寸.通过优化样本预制备流程，最大限度缩短离子束研磨时间，确保制备出适用于光学显微镜检测的镜面级表面。
广西科米瑞实验仪器设备有限公司生产销售 Leica Microsystems EM TXP，可提供产品参数、报价和售后服务咨询，价格面议。
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EM TXP作为机械横截面切割装置，可精准修整样本尺寸以适配目视检测需求。通过该设备优化样本预制备流程，能显著缩短离子束研磨时间，并确保制备出符合光学显微镜检测要求的镜面级表面。
电子与光学显微镜检测的横截面制备起点
电子显微镜观测的流程化制备
为宽束离子束研磨制备含埋藏结构的样本。
埋藏结构的宽束离子束研磨制备方案
精确预切割技术可暴露样本内部埋藏结构，通过去除冗余材料显著缩短离子束研磨时间。
图像改编自 王岩 等，《中生代鸟类与非鸟类恐龙牙齿的微观结构比较研究》，《皇家学会开放科学》10230147
光学显微镜目视检测的精准样本制备
制备光学显微镜检测所需的镜面级表面。
制备满足光学显微镜检测精度要求的表面。
精确抛光横截面以用于目视检测。
在体视显微镜下安全呈现样本结构。
版权声明：图片由Kurt Fuchs平面设计公司提供，由Christiansen研究团队在德国福希海姆INAM/IKTS园区莱卡显微系统参考实验室内拍摄。
表面制备工作流程的连贯性
保持样本定向与支撑的一致性。
只需将样本导入标准化流程
通过样本支持系统的兼容性设计提升效率并减少操作步骤。在整个表面制备流程中，可对EM TXP与EM TIC 3X设备使用统一样本夹。持续保持样本固定与定向的一致性，显著降低样本损伤与定位偏差风险。
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