显微镜解决方案 CIX100

简化技术清洁度 各类组件、液体及零部件的清洁度对于制造的每一个环节至关重要，即便微米大小的颗粒也可能缩短零部件寿命或影响其性能。严格的国际和国家规范明确了污染物的测量和记录方式，并要求详细的了解颗粒数量、尺寸分布和特征。CIX100 检测系统为此过程带来了保障——它是一个一站式、高效的解决方案，可以轻松满足现代清洁度标准。借助先进的深度学习人工智能技术，CIX100 检测系统将颗粒识别提升到了一个全新水平，提供洞察，帮助团队从源头保护质量。

各类组件、液体及零部件的清洁度对于制造的每一个环节至关重要，即便微米大小的颗粒也可能缩短零部件寿命或影响其性能。严格的国际和国家规范明确了污染物的测量和记录方式，并要求详细的了解颗粒数量、尺寸分布和特征。

CIX100 检测系统为此过程带来了保障——它是一个一站式、高效的解决方案，可以轻松满足现代清洁度标准。借助先进的深度学习人工智能技术，CIX100 检测系统将颗粒识别提升到了一个全新水平，提供洞察，帮助团队从源头保护质量。

清洁度检测标准流程：准备（第 1–3 步）和检查（第 4–6 步）

可靠的一站式技术清洁度检测解决方案 CIX100 是一款一站式解决方案，专为满足自动化技术清洁度检测的需求而设计。每个组件都经过优化，以确保在高通量系统中实现准确性、可再现性、可重复性和无缝集成，从而获得可靠的数据。自动化处理关键任务，有助于加快检测速度，同时最大限度地减少人为错误和污染样品的风险。下载宣传册

可靠的一站式技术清洁度检测解决方案

CIX100 是一款一站式解决方案，专为满足自动化技术清洁度检测的需求而设计。每个组件都经过优化，以确保在高通量系统中实现准确性、可再现性、可重复性和无缝集成，从而获得可靠的数据。自动化处理关键任务，有助于加快检测速度，同时最大限度地减少人为错误和污染样品的风险。

适用于多种常用采样方法 CIX100 支持适用于圆形或矩形采样区域的采样技术。可选择适用于直径 25 mm、47 mm 和 55 mm 滤膜的白色或黑色背景支架；胶带提升采样支架；适用于冶金应用的平面支架；以及适用于颗粒捕集的支架。

CIX100 支持适用于圆形或矩形采样区域的采样技术。可选择适用于直径 25 mm、47 mm 和 55 mm 滤膜的白色或黑色背景支架；胶带提升采样支架；适用于冶金应用的平面支架；以及适用于颗粒捕集的支架。

顶图和中图：白色和黑色背景的圆形样品架，可使用直径为 25 mm、47 mm、和 55 mm 的滤膜。左下图：用于颗粒捕集器的圆形样品架。右下图：矩形样品架，用于胶带剥离取样。* 不同地区胶带剥离支架的可获性可能不同。

操作轻松，适合各种经验的用户 PRECiV™ CIX 软件提供操作步骤指导，各种经验的用户都能轻松进行技术清洁度检测。直观的工作流程和用户权限管理有助提高对检测结果的把握度，同时减少周期时间、每次测试的成本和用户错误。从而提供针对生产力和高质量标准进行优化的系统。

操作轻松，适合各种经验的用户

PRECiV™ CIX 软件提供操作步骤指导，各种经验的用户都能轻松进行技术清洁度检测。直观的工作流程和用户权限管理有助提高对检测结果的把握度，同时减少周期时间、每次测试的成本和用户错误。从而提供针对生产力和高质量标准进行优化的系统。

引导式工作流程 直观的工作流程引导用户完成以下三个步骤：检测样品，审核结果，生成报告。从扫描样品到生成合规报告，极高的自动化程度提高了易用性，使各种经验的用户都能高效地进行检测并生成可靠的数据。

直观的工作流程引导用户完成以下三个步骤：检测样品，审核结果，生成报告。从扫描样品到生成合规报告，极高的自动化程度提高了易用性，使各种经验的用户都能高效地进行检测并生成可靠的数据。

直观的工作流程，配备大尺寸按钮，使用鼠标或触摸屏可以轻松点击。工作流程步骤（从左到右）：安装样品、调整参数、开始检测、查看结果、创建报告。

高级显微镜 PRECiV CIX 显微镜模式* 支持由专用的清洁度检查工作流程切换为执行显微成像，包括扩展聚焦成像 (EFI) 和二维测量。提供可选的材料分析解决方案（如晶粒度分析、铸铁分析和相分析），以扩展显微镜模式的功能。这些解决方案可以根据需要针对个人用户或具体应用定制特殊功能。*显微镜模式是 PRECiV CIX 的一项可选配解决方案。

PRECiV CIX 显微镜模式* 支持由专用的清洁度检查工作流程切换为执行显微成像，包括扩展聚焦成像 (EFI) 和二维测量。

提供可选的材料分析解决方案（如晶粒度分析、铸铁分析和相分析），以扩展显微镜模式的功能。这些解决方案可以根据需要针对个人用户或具体应用定制特殊功能。

*显微镜模式是 PRECiV CIX 的一项可选配解决方案。

快速实时分析与审查 借助创新偏振技术，CIX100 可对反光（金属）和不反光（非金属）颗粒（粒径范围从 2.5 µm 到 42 mm）进行图像采集和精准实时分析，而且只需扫描一次即可。计数和分类颗粒在扫描过程中实时显示，并按尺寸类别进行分组，支持测试失败时的快速决策。

借助创新偏振技术，CIX100 可对反光（金属）和不反光（非金属）颗粒（粒径范围从 2.5 µm 到 42 mm）进行图像采集和精准实时分析，而且只需扫描一次即可。

计数和分类颗粒在扫描过程中实时显示，并按尺寸类别进行分组，支持测试失败时的快速决策。

一站式扫描实现高通量检测 基于波长分离和颜色的创新偏振技术通过一次扫描即可检测反射（金属）和不反射（非金属）颗粒，为高通量实验室检测带来多重优势。检测反射（金属）和不反射（非金属）颗粒的速度是传统方法（需分别获取两张图像）的两倍。消除了光路中的活动部件（例如偏振器），从而避免影响系统稳定性并导致错误的结果。提高检测颗粒数量，降低每次检测的成本