倒置金相显微镜GX53
奥林巴斯金相显微镜中的GX53 倒置金相显微镜专为钢铁、汽车、电子和其他制造行业设计的GX53显微镜能够提供传统显微镜观察方法难以获得的清晰图像。将该显微镜与PRECiV图像分析软件配合使用时,从观察到图像分析和报告的整个检测流程都将变得更加顺畅。
广西科米瑞实验仪器设备有限公司提供 Evident / Olympus Scientific 倒置金相显微镜GX53 产品资料、选型咨询、供货报价和售后服务支持,价格面议。
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快速分析较厚的大尺寸样品材料
专为钢铁、汽车、电子和其他制造行业设计的GX53显微镜能够提供传统显微镜观察方法难以获得的清晰图像。将该显微镜与PRECiV图像分析软件配合使用时,从观察到图像分析和报告的整个检测流程都将变得更加顺畅。
快速观察、测量和分析金相结构。
1.采用组合观察方法获得出色图像 2.轻松生成全景图像 3.生成全聚焦图像 4.采集明亮区域和暗光区域
1.采用组合观察方法获得出色图像
2.符合行业标准要求的金相分析
即使是新手操作员也可以轻松完成样品观察、结果分析和报告创建。
1.轻松恢复显微镜设置 2.用户指导让高级分析变得更加简单 3.高效生成报告
2.用户指导让高级分析变得更加简单
我们成熟可靠的光学和成像技术可提供清晰的图像和可靠的结果。
1.可靠的光学性能:波前像差控制
2.清晰的图像:图像阴影校正
3.一致的色温:高强度白光LED照明
根据您的应用要求选择所需的组件。
1.打造专属于您的系统:利用各种可选组件获得全面定制的系统
GX53显微镜的各种观察功能可提供清晰、锐利的图像,让您能够对样品进行可靠的缺陷检测。PRECiV图像分析软件的新型照明技术和图像采集方案可为样品评估和结果记录提供更多选择。
高数值孔径和长工作距离相结合
物镜对显微镜的性能至关重要。新的MXPLFLN物镜通过同时实现数值孔径和工作距离提升,为MPLFLN系列落射式照明成像增加了深度。放大20倍和50倍时,分辨率越高,通常意味着工作距离越短,这会迫使样品或物镜在物镜交换过程中缩回。在许多情况下,MXPLFLN系列的3 mm工作距离消除了这一问题,使检查速度更快,物镜碰到样品的可能性更小。
了解有关MXPLFLN物镜的更多信息>>
MIX技术将暗场与另一种观察方法(例如明场或偏振)相结合,使您能够查看传统显微镜难以观察的样品。圆形LED照明器具有定向暗场功能,可在指定时间照射一个或多个象限,减少样品的光晕,以便更好地观察表面纹理。
MIX:明场 + 暗场 所有组成部分均可清晰呈现。
MIX:明场 + 暗场象限 材料色彩和纹理均可见。
轻松生成全景图像:即时MIA
使用XY旋钮调整载物台位置。
| 明场 基板层和通孔不可见。 | 暗场 痕迹不可见。/ MIX:明场 + 暗场 所有组成部分均可清晰呈现。 |
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| 明场 无法观察到纹理。 | 暗场象限 色彩信息被去除。/ MIX:明场 + 暗场象限 材料色彩和纹理均可见。 |
| 使用XY旋钮调整载物台位置。 | 可以看到金属流动的全部情况。 |
| 部分区域存在眩光。 | 使用HDR可清晰呈现暗光区域和明亮区域。 |
| 对比度低且不清晰。 | 使用HDR增强对比度。 |
| 明场 | 暗场 |
| 明场 | DIC观察 |
| 明场 | 偏振光观察 |
| 明场 | MIX:明场 + 暗场 |
| 晶粒度截点法解决方案 | 第二相的晶粒度面积法解决方案 |
| 含非金属夹杂物的钢 | 铁素体晶粒的微观结构 |
| 解决方案 | 支持标准 |
| 晶粒度截点法 | ISO 643: 2012、JIS G 0551: 2013、JIS G 0552: 1998、ASTM E112: 2013、DIN 50601: 1985、GOST 5639: 1982、GB/T 6394: 2002 |
| 晶粒度面积法 | ISO 643: 2012、JIS G 0551: 2013、JIS G 0552: 1998、ASTM E112: 2013、DIN 50601: 1985、GOST 5639: 1982、GB/T 6394: 2002 |
| 铸铁 | ISO 945-1: 2010、ISO 16112: 2017、JIS G 5502: 2001、JIS G 5505: 2013、ASTM A247: 16a、ASTM E2567: 16a、NF A04-197: 2004、GB/T 9441: 2009、KS D 4302: 2006 |
请填写必填信息,我们将在工作日尽快回复。
| 夹杂物恶劣视场 | ISO 4967(方法A): 2013、JIS G 0555(方法A): 2003、ASTM E45(方法A): 2013、EN 10247(方法P和M): 2007、DIN 50602(方法M): 1985、GB/T 10561(方法A): 2005、UNI 3244(方法M): 1980 |
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| 标准评级图对比 | ISO 643: 1983、ISO 643: 2012、ISO 945: 2008、ASTM E 112: 2004、EN 10247: 2007、DIN 50602: 1985、SEP 4505: 1978、SEP 1572: 1971、SEP 1520: 1998 |
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| 测量涂层厚度 | EN 1071: 2002、VDI 3824: 2001 |
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| 光学系统 | UIS2光学系统(无限远校正) |
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| 显微镜镜架 | 反射光照明 / 通过反射镜单元手动选择明场/暗场 带调中功能的手动视场光阑/孔径光阑切换 光源:白光LED(带光强度控制器)/12 V,100 W卤素灯/100 W汞灯/光导 观察模式:明场、暗场、微分干涉对比度(DIC) *1、简易偏振光 *1、MIX观察(4个定向暗场) *2 *1 该观察方法需要使用专用插片。*2 需要使用MIX观察配置。 |
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| 显微镜镜架 | 标尺压印 / 所有端口的位置(上/下)与通过目镜看到的观察位置相反 |
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| 显微镜镜架 | 前端口输出(可选) / 相机和DP系统(倒像,GX专用相机适配器) |
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| 显微镜镜架 | 侧端口输出(可选) / 相机,DP系统(正像) |
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| 显微镜镜架 | 电气系统 / 反射光照明 用于反射光照明的内置LED电源 连续可变光强度控制盘 输入额定值5 V DC,2.5 A(交流适配器100–240 V,交流 0.4 A,50 Hz/60 Hz) 透射光照明(需要可选的BX3M-PSLED电源) 电压式连续可变光强度控制盘 输入额定值5 V DC,2.5 A(交流适配器100–240 V,交流 0.4 A,50 Hz/60 Hz) 外部接口(需要可选的BX3M-CBFM控制盒) 编码物镜转换器连接器 × 1 MIX插片(U-MIXR-2)连接器 × 1 |
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| 显微镜镜架 | 对焦 / 带滚轮导轨的齿条和齿轮 手动、粗调和精调同轴手柄;对焦行程9 mm(载物台表面上方2 mm,下方7 mm) 精调手柄每转行程:100 μm(最小刻度:1 μm) 粗调手柄每转行程:7 mm 配粗调焦扭矩调节环 配粗调焦上限止动销 |
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| 镜筒 | 宽视场(FN 22) / 倒置:双目镜(U-BI90、U-BI90CT),可倾斜双目镜(U-TBI90) |
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| 载物台 | GX右侧手柄载物台(X/Y行程:50×50 mm,最大载荷5 kg) 活动式右侧手柄载物台、左侧短手柄载物台(各自X/Y行程:50×50 mm,最大载荷1 kg) 滑动载物台(最大载荷1 kg) 一套水滴型和长孔型 |
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| 重量 | 约25 kg(显微镜镜架20 kg) |
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| 环境 | ・室内使用 ・环境温度:5°C至40°C(45°F至100°F) ・最大相对湿度:最高温度31°C(88°F)时为80%(无冷凝) 如超出31°C(88°F),34°C(93°F)时相对湿度线性下降到70%,37°C(99°F)时下降到60% 40°C(104°F)时下降到50%。・污染等级:2(符合IEC60664-1要求) ・安装/过电压类别:II类(符合IEC60664-1要求) ・电源电压波动:±10% |
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