JEM-ACE200F 高效分析型电子显微镜

JEM-ACE200F将JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技术整合在一起，实现了高度稳定性和高分辨率，以精炼的外观设计呈现。该设备做成了操作流程菜单，按照该菜单，操作人员即使不直接操作设备也能采集到数据。

JEM-ACE200F将JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技术整合在一起，实现了高度稳定性和高分辨率，以精炼的外观设计呈现。

1. 装置主体

● 可配置Cs校正器和CFEG

● 高速高精度的stage，与现有的马达驱动控制相比速度上提高了3倍，具备与Piezo驱动控制同等效力的微动控制能力。

2. 操作简单

● 即使TEM的操作经验少也能直接操作设备

· 大量减少使用操作盘，直接按顺序点击显示画面上的按钮就能得到最终的图像

· 也可以用鼠标来进行调焦等操作

· 可以兼容GATAN CCD

● 自动调整功能

· 自动聚焦、自动调整样品高度、自动电子束传递、自动定位等

3. 自动获取数据的功能

自动获取数据的功能

● 按照操作菜单可自动获取数据

· TEM像、STEM像、元素面分布

· 可以对应栅格上的多个样品

4. 和测长软件链接

和测长软件链接

● 在TEM上设定倍率可以对其他倍率进行校正