JEM-F200 场发射透射电子显微镜

以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。

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1. 高分辨TEM/STEM观察

高分辨TEM/STEM观察

JEM-F200采用高稳定性、高亮度、高能量分辨率（<0.33 eV）的冷场发射电子枪，通过减小源自光源的色差，有效实现了高分辨率观察。此外，JEOL将多年来积累的技术经验充分融入到设计之中，大幅提升了机械与电气稳定性，从而实现了低漂移的图像采集。

实例1. 材料: Si [110] 高分辨STEM@ 200 kV，JEM-F200 HR极靴

实例2. 材料: Mono layer MoS2 sheet 高分辨STEM @ 200 kV, JEM-F200 HR极靴

实例3. 生命科学: ABS聚合物TEM观察@ 80 kV，JEM-F200 HR极靴，样品制备：microtome

2. 高效、高精度EDS分析

高效、高精度EDS分析

JEM-F200可同时搭载两个具备高分析灵敏度的大口径（100 mm²）硅漂移探测器（SDD，选配）。通过进一步的高灵敏度化，可实现更短时间、更低损伤的EDS分析。此外，采用在EDS面扫采集时直接将实时STEM像用作漂移校正图像的高速无损漂移校正技术，能够实现高效快速的测量，从而减轻EDS面扫过程中电子束对样品造成的损伤（选配）。

实例1. Strontium Titanate，200kV，256 × 256 pixel

实例2. 涂膜的高速EDS面分析@ 200kV，16nA，512 × 512 pixel，10 sec采集

实例3. Au/Pd 核壳纳米颗粒，200kV，512 × 512 pixel

样品提供：Prof. A. I. Kirkland at Oxford University，Dr. R. D. Tilley and Dr. Anna Henning at Victoria University of Wellington

3. 高能分辨率EELS分析

高能分辨率EELS分析

JEM-F200通过将高能量分辨率（<0.33 eV）的冷场发射电子枪与EELS（选配）相结合，能够实现比肖特基场发射电子枪更详细的化学键合状态分析。

实例：材料: Carbon allotropes@80 kV, TEM image, EELS QuantumER，JEM-F200 HR 极靴

4. 自动功能