JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪
JXA-iHP200F
JXA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同时，追求每个人都能简单快速地使用好仪器。该仪器能更加有效地进行观察分析和操作，是更先进的一体化集成FE-EPMA。
广西科米瑞实验仪器设备有限公司生产销售 JEOL JXA-iHP200F，可提供产品参数、报价和售后服务咨询，价格面议。
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JXA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同时，追求每个人都能简单快速地使用好仪器。该仪器能更加有效地进行观察分析和操作，是更先进的一体化集成FE-EPMA。
电子探针显微分析仪在钢铁、汽车、电子零件和电池材料等各种工业领域，作为研究开发和品质保证的分析工具被广泛使用，其用途越来越广。此外，在学术领域，地球空间科学、材料科学领域也在广泛使用，矿物等资源能源研究、各种新型材料研究等，期待在各种各样前沿研究中做出贡献。与此相应，在保持高局部微量元素分析性能的同时，追求每个人都能简单快速地使用好仪器。
JXA-iHP200F能更加有效地进行观察分析操作，是更先进的一体化集成场发射EPMA。
* EPMA是Electron Probe Microanalyzer简称
1. [Setting]
[Setting]
自动定位，准确安装样品台！迅速找到想观察的点！
进样和获取样品台导航像一键完成。从导航像能够指定分析区域。
2. [Analysis]
[Analysis]
充分的自动功能，谁都可以拍到高级的SEM像！
繁琐的设定也能对应，EPMA立马进行元素分析！
光学显微镜的自动聚焦功能与配备高精度/高速化新系统的SEM自动功能相结合，任谁都可以拍到高级的SEM像。
通过【live Analysis】能够在观察中进行筛选分析。初学者也能操作的【简单的EPMA】。
用【EPMA-XRF integration】在XRF数据的基础上能够进行EPMA的条件设定。用【WD/ED integration】能够缩短分析时间。
SEM、EDS、XRF、WDS、光学像的集成一体化提高了仪器的操作性能。
通过WD/ED integration，分析时间缩短的例子
integration：用这些仪器推定的元素在一体化EPMA上可以一键设定分光晶体的组合
3. [Self Maintenance]
[Self Maintenance]
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