JSM-IT810 场发射扫描电子显微镜

JSM-IT810系列FE-SEM结合多功能性和高空间分辨率，实现了自动化操作。内置无需编码的成像和EDS分析自动化功能，使工作流程更加流畅高效。此外，还新增了一些功能，确保所有SEM用户获得高质量数据和更好的用户体验。FE-SEM的操作从没有像JSM-IT810系列这么简单。

利用自动化技术，提高了从仪器调试到观测分析的操作效率！

JSM-IT810系列FE-SEM结合多功能性和高空间分辨率，实现了自动化操作。内置无需编码的成像和EDS分析自动化功能，使工作流程更加流畅高效。此外，还新增了一些功能，确保所有SEM用户获得高质量数据和更好的用户体验。这些功能包括SEM自动调整包、梯形校正功能（在EBSD测试中非常有用）、以及用于观察表面形貌的Live 3D重构功能。

FE-SEM的操作从没有像JSM-IT810系列这么简单。

1. 自动观察分析功能“Neo Action”

自动观察分析功能“Neo Action”

智能操作，自动执行SEM观测和能谱分析(EDS)

Sample: Chondrules in chondrite Julesberg (L3.6)，Landing Voltage: 5 kV

2. 自动校准功能“SEM自动调整包”

自动校准功能“SEM自动调整包”

用标样来进行自动倍率调整、电子束对中和EDS能量校准。定期检查确保设备处于最佳状态。

VIDEO：自动倍率调整、电子束对中

VIDEO：自动电子束对中

3. 实时3D功能

实时3D功能

5段半导体型探测器可以选择背散射电子信号。从外侧4段获取的二维图像可用于三维图像重构。全新的Live-3D功能可实时测量和检查样品的拓扑结构。

4. 一体化EDS

一体化EDS

一体化EDS集成消除了SEM观察与EDS元素分析之间的障碍。观察屏幕上有点、面、线、和MAP等各种分析模式，可以立刻进行分析。