JEM-Z200MF 无磁场透射电子显微镜

一款无磁场物镜的电子显微镜，可以在不向样品施加强磁场的情况下实现高分辨率观察。结合高次像差校正器，可以实现原子级分辨率成像。

JEM-Z200MF是一款无磁场物镜的电子显微镜，可以在不向样品施加强磁场的情况下实现高分辨率观察。结合高次像差校正器，可以实现原子级分辨率成像。

1. 无磁场物镜

JEM-Z200MF物镜由位于样品上方和下方的两块透镜（FOL/BOL）组成。这两块透镜在样品平面处相互抵消磁场，从而形成一个具有无磁场环境和短焦距的物镜。短焦距可降低色差并提高整体稳定性。结合高阶像差校正器，可实现原子级分辨率成像。通过内置在透镜周围的线圈，可以向样品施加Z方向的磁场。

2. 双球差校正

JEM-Z200MF在照明侧和成像侧均配备了双校正系统，可实现高分辨率的STEM和TEM成像。

3. 照明系统

STEM校正器可以以两种模式运行，一种适用于高分辨率观察，另一种适用于高灵敏度DPC研究。

4. 成像系统

在JEM-Z200MF显微镜上，现在可以通过按下一个按钮在CV（常规）模式和HR（高分辨率）模式之间切换，以进行暗场/明场观察。

1. 原子尺度上的可视化电场/磁场分布

原子尺度上的可视化电场/磁场分布

相差衬度像（DPC）

该方法通过使用分段或像素化探测器测量样品内部的电场/磁场引起的电子束微小偏转来实现这一目的。

2. 降低衍射对比度的DPC STEM法

降低衍射对比度的DPC STEM法

Tilt-Scan system

JEM-Z200MF配备了专用的电子束偏转系统，可以改变电子束入射角度。将不同的入射角度下获取的多张DPC STEM图像叠加在一起，可以减少衍射衬度的影响，如下图所示（倾斜扫描平均DPC STEM，t-DPC-STEM）。

1. 高分辨STEM成像

高分辨STEM成像