ASD FieldSpec 4 Hi-Res：高分辨率光谱辐射仪
ASD FieldSpec 4 Hi-Res：高分辨率光谱辐射仪
3 nm VNIR、8 nm SWIR 分辨率。350-2500 nm 完整光谱范围。ASD FieldSpec ® 4 Hi-Res 是一款设计用于为各种遥感应用提供更快、更准确的光谱数据测量结果的高分辨率光谱辐射仪
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说明
3 nm VNIR、8 nm SWIR 分辨率
350-2500 nm 完整光谱范围
ASD FieldSpec ® 4 Hi-Res 是一款设计用于为各种遥感应用提供更快、更准确的光谱数据测量结果的高分辨率光谱辐射仪。
ASD FieldSpec ® 4 Hi-Res 光谱辐射仪的 3 nm VNIR、8 nm SWIR 光谱分辨率可在全范围太阳辐照光谱 (350 – 2500 nm) 内提供稳定可靠的光谱性能。SWIR 范围 (1000 – 2500 nm) 内的增强光谱分辨率特别适合检测和识别具有窄光谱特征和更长波长的化合物，如蚀变矿物和用于大气分析的气体。
此外，8 nm 分辨率达到甚至超过大多数高光谱传感器的光谱分辨率，这使 ASD FieldSpec 4 Hi-Res 光谱辐射仪成为传感器验证和校准以及地面实况调查和光谱库建立的更好选择。
与所有 ASD FieldSpec 光谱辐射仪一样，ASD FieldSpec 4 Hi-Res 可作为高分辨率光谱仪使用，以提供可靠的接触反射率测量结果。
最适合：需要最大灵敏度的用户，非常适合户外和遥感应用。
卓越的信噪比：灵敏度是 TerraSpec 和 LabSpec 的两倍，使其成为在阳光等有限自然光源下工作的最佳选择。
遥感的理想选择：用于对飞越传感器进行地面验证、匹配卫星数据，并确保在不同环境条件下进行准确的光谱测量。
建议在阳光下使用：对于在自然光下可靠地收集数据至关重要。
预分散系统: 依靠内部光源，在光到达样品之前将其分散。
后分散系统: 反射后分散光线，从而可以利用太阳等外部光源。
ASD 仪器中使用的后色散系统技术提供了卓越的分析能力：
适应不同的光照条件，无需依赖内部光线。
光谱遥感：采集可见光、近红外和短波红外图像，以对表面材料、生物和化学过程进行检测、鉴定和定量，适用于多种环境和军事应用中的研究和分析。
遥感和地质：几十年来，ASD 的光谱辐射仪一直用于远程地质解读。准确复现野外条件对于支持飞行传感器至关重要。
大气遥感研究：对直射、漫射和总光谱太阳辐照度以及天空和云辐射度的观察对于许多气候和生态系统能量平衡研究中的大气研究至关重要。
航空遥感测量：采集过大或无法进行地面测量的区域的光谱。
规格
| 光谱性能 | 350-2500 nm |
|---|---|
| 分辨率 | 3 nm @ 700 nm 8 nm @ 1400/2100 nm |
| 光谱带宽 | 1.4 nm @ 350-1000 nm 1.1 nm @ 1001-2500 nm |
| 测量时间 | 100 毫秒 |
| 光源 | VNIR 0.02%、SWIR 1 和 2 0.01% |
| Wavelength reproducibility | 0.1 nm |
| 波长准确性 | 0.5 nm |
| Maximum radiance | VNIR 2X Solar, SWIR 10X Solar |
| 通道 | 2151 |
| 检测器 | VNIR 检测器 (350-1000 nm)：512 元素硅阵列 SWIR 1 检测器 (1001-1800 nm)：渐变折射率 InGaAs 光电二极管，双级 TE 冷却 SWIR 2 检测器 (1801-2500 nm)：渐变折射率 InGaAs 光电二极管，双级 TE 冷却 |
| Input | 1.5 m 光纤（25° 视场）。提供可选的视场更窄的光纤。 |
| Noise Equivalent Radiance (NEdL) | VNIR 1.0 X10-9 W/cm2/nm/sr @700 nm SWIR 1 1.4 X10-9 W/cm2/nm/sr @ 1400 nm SWIR 2 2.2 X10-9 W/cm2/nm/sr @ 2100 nm |
| 重量 | 5.44 kg (12 lbs) |
| 校准类型 | 波长、绝对反射率、辐射度*、辐照度*。所有校准均为 NIST 可溯源校准。（*辐射度校准为可选） |
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