SediGraph III Plus 全自动X光沉降粒度分析仪

新一代的 SediGraph III Plus 粒度分析仪结合成熟及改进的分析技术，能够提供具备更高重复性和精确度的颗粒粒径信息，并且进一步加快了测试速度，在几分钟内即可完成测试。

为什么选择 SediGraph III Plus 全自动X光沉降粒度分析仪

SediGraph III Plus 基于直接质量浓度检测来测定粒度分布和统计量（如 D10、D50 和 D90）。基本和高级报告均可一键生成。SediGraph III Plus 可与可选的 MasterTech 自动进样器联用，以连续监测生产过程，并将数据推送至网络或云端以便远程访问。

能够与其他粒径测量方法获得的数据合并，数据报告范围扩展至 125,000μm (125mm)，在地质学方面具有很好的应用

自下而上地扫描沉降池，能够准确获取快速沉降的颗粒总数，同时尽可能缩短细颗粒分离所需的时间

能够提高样品分析通量，并且减少人为操作步骤，以降低由人为操作造成的测量误差

SediGraph III Plus 能够自动提供 0.1μm – 300μm 范围内的详细粒度分析报告，还可将其他粒度分析仪上 300μm – 125,000μm 范围的数据与之结合，使有效粒径分析范围扩展为 0.1μm – 125,000μm。

不锈钢、特氟龙浸渍阳极氧化铝、镀镍铝、尼龙、聚丙烯、聚苯乙烯、聚乙烯和 Pharmed 管、碳化钨、超白钢、氟化橡胶、橡胶、环氧树脂

与样品池材料兼容，且不吸收 X 光的液体（如：水、乙二醇、矿物油、SediSperse® 和乙醇等）

运行环境温度 10°C – 40°C，储存或运输温度范围 -10 – 55°C

高度：52 厘米（20.5 英寸） 宽度：50.5 厘米（20 英寸） 深度：58 厘米（23 英寸） 重量：43 公斤（95 磅）。

所提供的规格在发布时从现有文件中摘录有效。这些规格可能会更改，恕不另行通知，仅供一般参考。