纳米粒径分析仪 NANOTRAC WAVE II
纳米粒径分析仪 NANOTRAC WAVE II
Microtrac的NANOTRAC Wave II是一种高度灵活的动态光散射（DLS）分析仪，可提供有关粒径、Zeta电位、浓度和分子量的信息。它使用可靠的技术、更高的精度和更高的精度进行更快的测量。所有这些结合成一个紧凑的DLS分析仪与一个革命性的固定光学探头。通过独特灵活的探针设计和在NanoRAC Wave II中使用激光放大检测方法，用户可以...
广西科米瑞实验仪器设备有限公司生产销售 Microtrac 纳米粒径分析仪 NANOTRAC WAVE II，可提供产品参数、报价和售后服务咨询，价格面议。
← 返回产品列表Microtrac的NANOTRAC Wave II是一种高度灵活的动态光散射（DLS）分析仪，可提供有关粒径、Zeta电位、浓度和分子量的信息。它使用可靠的技术、更高的精度和更高的精度进行更快的测量。所有这些结合成一个紧凑的DLS分析仪与一个革命性的固定光学探头。通过独特灵活的探针设计和在NanoRAC Wave II中使用激光放大检测方法，用户可以从满足任何应用需求的各种测量单元中进行选择。这种设计还允许在广泛的浓度范围内测量样品，单峰或多峰样品，所有这些都不需要事先了解粒度分布。这是通过使用频率功率谱（FPS）方法而不是经典的光子相关光谱（PCS）实现的。
纳米粒径分析仪 NANOTRAC WAVE II / ZETA 胶体系统的精确测量
纳米粒径分析仪 NANOTRAC WAVE II / ZETA 纳米颗粒和Zeta电位分析的理想选择
NANOTRAC WAVE II粒度分析仪中的zeta电位测量采用了与测量纳米粒度分布相同的频率功率谱方法。同样稳定的光学样品接口意味着无需调整。在测量粒径时，收集反向散射和激光放大的检测信号，应用电场的快速排序可防止电渗。光学探针表面被涂覆以提供与样品的电接触。使用两个探针，一个用于确定滑动面上粒子电荷的极性，另一个用于测量粒子在电场中的迁移率。极性是在脉冲电场中测量的，而迁移率是在高频正弦波电场激励下测量的。zeta电池的两侧有两个探测探针，用于探测极性和迁移率。根据线性频率功率谱分布（PSD），可以计算与颗粒浓度成正比的负载指数（LI）。负载指数值为总散射提供了一个单一数字，可用于确定微粒的迁移率（微米/秒/伏/厘米）和微粒极性（正负）。测量迁移率和zeta电位首先测量PSD，并在激发关闭的情况下确定LI。然后在高频正弦波打开的情况下测量PSD，并取一个比率。通过测量脉冲直流激励前后的LI来确定极性。对于带正电的探针表面，激发后的LI除以激发前的LI的比值小于1表示正极性（浓度降低），大于1表示负极性（浓度升高）。
Mobility = C x (ratio of [PSD(on) – PSD(off)] / LI(off) Zeta电位∝ 流动性
纳米粒径分析仪 NANOTRAC WAVE II / ZETA 典型应用
The STABINO ZETA is a highly versatile solution for rapid and reliable zeta potential and stability analyses. Designed to meet the demands of modern industries, it empowers users to optimize performance across a wide range of applications, including inks and pigments, ceramics, food and beverages, colloidal systems, polymers, microemulsions, cosmetics, battery slurries, chemicals, and carbon materials. Whether improving product quality, accelerating development, or ensuring process consistency, the STABINO ZETA delivers fast, actionable insights where they matter most.
纳米粒径分析仪 NANOTRAC WAVE II / ZETA 技术参数
纳米粒径分析仪 NANOTRAC WAVE II / ZETA 作用原理
NANOTRAC WAVE II纳米颗粒粒度分析仪的光学工作台是一个包含光纤和Y型分离器的探头。激光聚焦在探头窗口和分散界面的样品体积上。高反射率的蓝宝石窗口将部分激光束反射到光电二极管检测器上。激光也穿透了分散体，来自颗粒的散射光以180度的角度反射到同一个检测器上。相对于反射的激光束而言，来自样品的散射光具有较低的光信号。反射的激光束与来自样品的散射光混合，激光束的高振幅被添加到原始散射信号的低振幅中。这种激光放大检测方法的信噪比是其他DLS方法的106倍，如光子相关光谱（PCS）和纳米跟踪（NT）。激光放大检测信号的快速傅里叶变换（FFT）产生一个线性频率功率谱，然后将其转换为对数空间并进行反折，得到最终的粒度分布。与激光放大检测相结合，这种频率功率谱计算提供了所有类型的粒度分布（窄、宽、单峰或多峰）的稳健计算，而不需要像PCS那样对先验信息进行算法拟合。Microtrac颗粒分析仪使用的激光放大检测方法不受样品中污染物造成的信号失真影响。经典的PCS仪器需要对样品进行过滤或建立复杂的测量来消除这些信号失真。
1、检测器；2、激光；3、反射激光；4、悬浮颗粒；5、在探针尖端和流体的界面上开发了控制参考
1. 预估尺寸分布 | 2. 计算预估的粒径 | 3. 计算粒度误差| 4. 正确预估分布| 5.重复1-4直到误差最小| 6. 最小误差分布最佳拟合
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