Micro-Z
即使是硫含量未知的样品,也可以通过测量硫的X射线荧光强度来进行校正,以获得更可靠的定量性能。无需使用昂贵的氦气,因为样品和光学室之间的分隔装置可使光学元件处于真空状态
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即使是硫含量未知的样品,也可以通过测量硫的X射线荧光强度来进行校正,以获得更可靠的定量性能。无需使用昂贵的氦气,因为样品和光学室之间的分隔装置可使光学元件处于真空状态。
Micro-Z CL 功能
Micro-Z CL 技术规格
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