Sonix Echo 扫描声学显微镜
Echo
ECHO scanning acoustic microscope 是无损超声缺陷检测设备，用于实验室或生产线中的封装半导体开发、生产和失效分析。
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说明
产品说明
ECHO scanning acoustic microscope 是无损超声缺陷检测设备，用于实验室或生产线中的封装半导体开发、生产和失效分析。
- 设备可检测薄至 0.05 micron 的空气缺陷。
- 空间分辨缺陷可达 10 microns。
- 适用于 bump detection、stacked die、复杂 flip chip 和塑封封装应用。
规格参数
| 品牌 | Sonix |
|---|---|
| 型号 | Echo |
| 产品类型 | Scanning Acoustic Microscope |
| 缺陷检测 | air defects as thin as 0.05 micron |
| 空间分辨 | down to 10 microns |
规格
| 型号 | Echo |
|---|---|
| 缺陷检测 | air defects as thin as 0.05 micron |
| 空间分辨 | down to 10 microns |
FAQ
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