TCS SMD FLIM 荧光寿命成像
TCS SMD FLIM
Leica TCS SMD FLIM 系统属于 Leica TCS SMD 系列。该系统专门用于 荧光寿命测量，在纳米水平反映分子的局部环境信息。局部环境条件可决定分子的折叠状态，从而影响分子的反应性
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Leica TCS SMD FLIM 系统属于 Leica TCS SMD 系列。
该系统专门用于 荧光寿命测量，在纳米水平反映分子的局部环境信息。
局部环境条件可决定分子的折叠状态，从而影响分子的反应性。FLIM (Fluorescence Lifetime Imaging，荧光寿命成像) 也可用于分子 结合研究 (FLIM-FRET)，识别生理条件下的自然代谢产物。
SMD FLIM 实验向导 优化 FLIM 的测量条件，可进行时间序列或三维 FLIM 测量。
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