Visoria P、DM750P和DM4P 偏光显微镜
Visoria P
徕卡DM4 P偏光显微镜是检测晶体结构的绝佳之选。徕卡DM系列正置偏光显微镜包括半自动、手动及教学显微镜，配备多物镜的物镜转盘，可检测矿物质、塑料制品，检验药品、色素、粘合剂等
广西科米瑞实验仪器设备有限公司生产销售 Leica Microsystems Visoria P，可提供产品参数、报价和售后服务咨询，价格面议。
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如果您想要研究晶体结构，偏光显微镜将是您的较好选择。无论是矿物、塑料和聚合物、药物药品或燃料和接合剂，徕卡正置偏光显微镜都能帮助您观察到感兴趣的内容，完成您的研究或质量控制任务。
令样品呈现水晶般清晰透亮
徕卡正置偏光显微镜助您获得高质量结果
根据不同的应用，您可以从三种不同的偏光显微镜系统中进行选择
您需要一些组件来实现偏光研究目标。以下都是重要的组件：
无应力光学部件，因为您需要确保观测到的双折射来自样品而非光学部件
偏光镜帮助您看到双折射，旋转台帮助您对准样品和光轴
您还需要用于对光轴进行锥光观察的勃氏镜和用于测量任务的补偿器
关于 Science Lab显微知识库偏光显微观察 相关的知识。
您可以为徕卡偏光显微镜配置透射光或反射光LED照明，也可以为其同时配置透射光和反射光LED照明。
进行反射率测量时必须使用入射光，例如观察矿石或煤炭。
进行双折射测量时则需要使用透射光，例如检测地质薄片、聚合物薄膜或药品。
在地质研究等特殊应用中，两种光都必不可少。
当显微镜配置为使用入射光和透射光两种光时，相关物镜 (带或不带盖玻片校正功能) 应从 >10 倍的放大倍率开始使用。
如要借助锥光法对光学属性进行详尽研究，可切换为 63 倍放大倍率
切换至 100 倍可以沿颗粒边界检验相反应
锥光法用于研究干涉图。这些图的形状和由补偿器进行的修改可以生成有关研究材料光学属性方面的信息。您可以测定材料的光轴数量、光轴角度和光学特性。
Leica DM4 P 非常适用于锥光法
使用透射光、锥形镜、63 倍 N Plan 物镜和偏振光拍摄的 DM4 P 显微镜图像
您可以从三种不同的偏光显微镜系统中进行选择
为了得到完全可再现的图像设置和可靠的测量结果，您是否需要高等级的自动化？
您是否需要一种灵活耐用并且对偏光光学部件有着最高要求的系统？
您在教授大学课程的材料与地球科学时是否需要结构小巧的专业偏光显微镜？
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