灵活的自动扫描系统 MDPmap
MDPmap设计用于离线生产控制或研发、测量少子寿命、光电导率、电阻率和缺陷信息等参数的小型台式无触点电特性测量仪器，在稳态或短脉冲激励下(μ-PCD)下工作。自动的样品识别和参数设置允许在从原始生长晶片到高达95%金属化晶片的各种工艺阶段之后，容易地应用于包括外延层的各种不同样品。MDPmap的主要优点是灵活性...
- 型号
- MDPmap
- 产品分类
- / 光伏测量仪器 / 少子寿命测试仪 / MDPmap MDPmap
MDPmap设计用于离线生产控制或研发、测量少子寿命、光电导率、电阻率和缺陷信息等参数的小型台式无触点电特性测量仪器，在稳态或短脉冲激励下(μ-PCD)下工作。自动的样品识别和参数设置允许在从原始生长晶片到高达95%金属化晶片的各种工艺阶段之后，容易地应用于包括外延层的各种不同样品。MDPmap的主要优点是灵活性...
材料表征、热分析、力学、粒度、表面和物性测试设备