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颗粒计数与真密度仪丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号 Bettersize C400光学颗粒计数器

Bettersize C400光学颗粒计数器

是丹东百特仪器有限公司新研制的具有国际先进水平的光阻与角散射结合的颗粒计数器。由于大颗粒对光的遮挡作用较强，所以光阻法主要用来测试40-400μm的较粗和粗颗粒；由于细颗粒对光的散射作用较强，所以角散射法主要用来测试0.5-40μm的细颗粒。两种测试方式相互结合，相互印...

技术参数: 产品介绍 Bettersize C400光学颗粒计数器是丹东百特仪器有限公司新研制的具有国际先进水平的光阻与角散射结合的颗粒计数器。由于大颗粒对光的遮挡作用较强，所以光阻法主要用来测试40-400μm的较粗和粗颗粒；由于细颗粒对光的散射作用较强，所以角散射法主要用来测试0.5-40μm的细颗粒。两种测试方式相互结合，相互印证，拓展了仪器测量范围同时也确保了测量的准确性。BettersizeC400除具有独特的光阻和角散射系统外，还有下列先进技术：一是采用了平顶光技术，克服了相同粒径的颗粒在高斯
技术参数: Bettersize C400光学颗粒计数器是丹东百特仪器有限公司新研制的具有国际先进水平的光阻与角散射结合的颗粒计数器。由于大颗粒对光的遮挡作用较强，所以光阻法主要用来测试40-400μm的较粗和粗颗粒；由于细颗粒对光的散射作用较强，所以角散射法主要用来测试0.5-40μm的细颗粒。两种测试方式相互结合，相互印证，拓展了仪器测量范围同时也确保了测量的准确性。
技术参数: BettersizeC400除具有独特的光阻和角散射系统外，还有下列先进技术：一是采用了平顶光技术，克服了相同粒径的颗粒在高斯光束中的不同位置上的光阻和角散射信号不一致，造成结果不准确的弊端，进一步保证了测试结果的准确性。二是研制了速度高达40Mbyte/s的高速信号采集与传输系统，保证不丢失一个有效颗粒。三是在量程的每一个区段（粗、较粗、中、较细、细）上都用通过国家认证的颗粒度标准样品标定，保证了全量程每个段都准确。
技术参数: 在实际测试中，颗粒在逐个通过毛细管测量区时，会因为遮挡和散射使横穿毛细管的激光束的光强瞬间发生变化，产生与颗粒大小成正比的光阻和角散射信号，通过光学传感器将这些光信号转化为电信号，并通过USB3.0将信号传输到电脑中，用专门的分析软件对这些信号进行还原分析，从而得到该样品中的颗粒个数、颗粒分布以及清洁度等级等结果。

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图像颗粒分析仪丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号 BT-1600图像颗粒分析系统

BT-1600图像颗粒分析系统

BT-1600静态图像颗粒分析系统由光学显微镜、数字CCD摄像头、图像处理与分析软件、电脑、打印机等部分组成。它是将传统的显微测量方法与现代的图像处理技术结合的产物。它的基本工作流程是通过专用数字摄像机将显微镜的图像拍摄下来并传输到电脑中，通过专门的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行处理与分析，从而得到每一个颗粒的粒...

技术参数: 产品介绍 BT-1600静态图像颗粒分析系统由光学显微镜、数字CCD摄像头、图像处理与分析软件、电脑、打印机等部分组成。它是将传统的显微测量方法与现代的图像处理技术结合的产物。它的基本工作流程是通过专用数字摄像机将显微镜的图像拍摄下来并传输到电脑中，通过专门的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行处理与分析，从而得到每一个颗粒的粒度和粒形信息，再将每一个颗粒的粒度和粒形信息进行统计，从而得到粒度（D50）及粒度分布、平均长径比及长径比分布、平均圆形度及圆形度分布等结果。BT-1600静态图像颗粒分析系
技术参数: BT-1600静态图像颗粒分析系统由光学显微镜、数字CCD摄像头、图像处理与分析软件、电脑、打印机等部分组成。它是将传统的显微测量方法与现代的图像处理技术结合的产物。它的基本工作流程是通过专用数字摄像机将显微镜的图像拍摄下来并传输到电脑中，通过专门的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行处理与分析，从而得到每一个颗粒的粒度和粒形信息，再将每一个颗粒的粒度和粒形信息进行统计，从而得到粒度（D50）及粒度分布、平均长径比及长径比分布、平均圆形度及圆形度分布等结果。
技术参数: BT-1600静态图像颗粒分析系统还具有很多独特的图像处理功能，包括自动拍摄、自动分割、自动填充、批处理多幅图像、准确性标定等。其中众多的“自动”功能简化了操作，提高了效率；批处理多幅图像功能，彻底克服了传统的静态图像颗粒分析系统仅能分析单幅图像，导致颗粒数太少，代表性不足，结果不准确的问题。它可以拍摄很多幅图像，对这些图像一幅一幅地处理，每一幅处理过的图像上的颗粒都汇集到一起，提高了代表性。
技术参数: ●标定方法：用显微镜专用标准刻度尺直接标定每个像素的尺寸，再根据每个颗粒图像面积所占的像素多少来度量颗粒的大小，以微米为单位。

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图像颗粒分析仪丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号 BT-1700扫描图像粒度粒形分析系统

BT-1700扫描图像粒度粒形分析系统

BT-1700静态扫描图像粒度粒形分析系统是一种高性能的静态图像颗粒分析系统。用在对粉体材料颗粒分析时叫作粒度粒形分析系统。BT-1700性能独特之处有以下四点：一是显微镜具有自动载物台，能自动拍摄不同位置的颗粒图像；二是具有自动对焦功能，保证所拍摄的每一幅图像中的颗粒都是最清晰的；三是具有相邻视场无缝拍摄功能，...

技术参数: 产品介绍 BT-1700静态扫描图像粒度粒形分析系统是一种高性能的静态图像颗粒分析系统。用在对粉体材料颗粒分析时叫作粒度粒形分析系统。BT-1700性能独特之处有以下四点：一是显微镜具有自动载物台，能自动拍摄不同位置的颗粒图像；二是具有自动对焦功能，保证所拍摄的每一幅图像中的颗粒都是最清晰的；三是具有相邻视场无缝拍摄功能，并能把这些连续的小图像无缝合成一幅大图像，就像是一次拍摄的放大了几百倍甚至上千倍的照片一样；四是根据不同物质的颗粒对光的吸收和反射特性不同这一特征，通过分析每一个颗粒的图像亮
技术参数: 在粒度粒形分析中，BT-1700能把载玻片上的每一个颗粒一次全部分析完。得出的粒度信息包括每一个颗粒的粒径、最大颗粒、中位径、粒度分布数据和曲线等；得出的粒形信息包括每一个颗粒的球形度和长径比等粒形参数，以及球形度和长径比分布数据和曲线。

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图像颗粒分析仪丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号 BT-2900动态图像粒度粒形分析系统

BT-2900动态图像粒度粒形分析系统

主要适用于粗的、粒状材料的粒度粒形分析领域，如金刚砂、研磨材料、机制砂、河沙等。它的测试过程是将20g左右的样品放到储料漏斗里，通过电磁振动加料器和布料槽将颗粒分散开，并在布料槽的末端自由下落，高速摄像机在下落过程中拍摄颗粒图像，并通过电脑对这些图像进行分析，从而得到粒度与粒...

技术参数: 产品介绍 BT-2900动态图像粒度粒形分析系统主要适用于粗的、粒状材料的粒度粒形分析领域，如金刚砂、研磨材料、机制砂、河沙等。它的测试过程是将20g左右的样品放到储料漏斗里，通过电磁振动加料器和布料槽将颗粒分散开，并在布料槽的末端自由下落，高速摄像机在下落过程中拍摄颗粒图像，并通过电脑对这些图像进行分析，从而得到粒度与粒形数据。与静态图像粒度粒形分析仪拍摄载物片上静止不动的颗粒不同，BT-2900是在颗粒下落状态下拍摄颗粒图像的，因此我们把它叫做干法动态图像粒度粒形分析系统。这种系统可实现亚
技术参数: 与静态图像粒度粒形分析仪拍摄载物片上静止不动的颗粒不同，BT-2900是在颗粒下落状态下拍摄颗粒图像的，因此我们把它叫做干法动态图像粒度粒形分析系统。这种系统可实现亚毫米和毫米级颗粒的精确粒度粒形测量，在粗颗粒的粒度粒形分析领域一枝独秀。它通过分散和布料系统实现自动进样，不但简化操作，还减少了人为因素的影响，提高了准确性。高速摄像机实现动态连续拍摄，一次能拍摄数万、十几万甚至几十万个颗粒，对这么大量的颗粒进行分析，充分保证了样品的代表性，保证结果准确。同时，图像处理软件能自动判断和提取粘连颗粒，
技术参数: BT-2900的分析项目包括粒度和粒形两大类，粒度分析项目有每一个颗粒的粒径、最大颗粒、典型值、特定区间含量、小于或大于某一粒径含量、粒度分布数据和分布曲线；粒形分析包括每一个颗粒的圆形度、长径比、凸起度、椭圆比、实积度等，同时能得出每一种粒形参数的分布数据和曲线。
技术参数: （1）粒度：包括粒度分布、典型值、最大粒径、特定区间含量、大于或小于某粒径的含量（2）粒形：长径比及分布、圆形度及分布、纵横比及分布、颗粒图像

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图像颗粒分析仪丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号 BT-2800长径比分析系统

BT-2800长径比分析系统

是采用了鞘流技术的动态粒度粒形分析系统，它由显微镜、鞘流样品池、微量泵、进口摄像机、搅拌分散系统等组成。它的工作过程是将样品放到烧杯里制成一定浓度的悬浮液，通过搅拌器和分散器将样品分散好以后，用微量泵将样品抽取出来，注入到鞘流样品池中，同时，鞘液泵也将鞘液（一般为纯净水）注入鞘流样品池...

技术参数: 产品介绍 BT-2800长径比分析系统是采用了鞘流技术的动态粒度粒形分析系统，它由显微镜、鞘流样品池、微量泵、进口摄像机、搅拌分散系统等组成。它的工作过程是将样品放到烧杯里制成一定浓度的悬浮液，通过搅拌器和分散器将样品分散好以后，用微量泵将样品抽取出来，注入到鞘流样品池中，同时，鞘液泵也将鞘液（一般为纯净水）注入鞘流样品池中并将样品流包裹在中间，二者一起从样品池中流过，在流动过程中摄像机通过显微镜连续拍摄颗粒图像并传输到电脑中进行分析，从而得到粒度和粒形参数。与静态图像粒度粒形分析仪拍摄载物
技术参数: BT-2800长径比分析系统是采用了鞘流技术的动态粒度粒形分析系统，它由显微镜、鞘流样品池、微量泵、进口摄像机、搅拌分散系统等组成。它的工作过程是将样品放到烧杯里制成一定浓度的悬浮液，通过搅拌器和分散器将样品分散好以后，用微量泵将样品抽取出来，注入到鞘流样品池中，同时，鞘液泵也将鞘液（一般为纯净水）注入鞘流样品池中并将样品流包裹在中间，二者一起从样品池中流过，在流动过程中摄像机通过显微镜连续拍摄颗粒图像并传输到电脑中进行分析，从而得到粒度和粒形参数。
技术参数: 与静态图像粒度粒形分析仪拍摄载物片上静止不动的颗粒不同，BT-2800是在颗粒流动状态下拍摄颗粒图像的，这就是动态图像粒度粒形分析系统的由来。这种系统的优点如下：一是通过微量泵和搅拌分散系统实现自动进样，不但简化操作，还减少了人为因素的影响，提高了准确性。二是能连续不同地拍摄，每个样品都能拍摄数万、十几万甚至几十万个颗粒，对这么多的颗粒进行分析，保证了样品的代表性好，保证结果准确。三是采用边缘识别技术进行图像处理，每分钟能处理1-2万个颗粒，这样的图像处理速度，一边拍摄一边在屏幕上实时显示每个
技术参数: BT-2800的分析项目包括粒形和粒度两大类，粒形分析包括排每一个颗粒的长径比、圆形度、凸起度、椭圆比、实积度等，同时能得出每一种粒形参数的分布数据和曲线等。粒度分析项目包括每一个颗粒的粒径、最大颗粒、典型值、特定区间含量、小于或大于某一粒径含量、粒度分布数据和分布曲线等。

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表面电荷/Zeta 电位分析仪丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号 BeNano 90 纳米粒度分析仪

BeNano 90 纳米粒度分析仪

B eNano90纳米粒度分析仪是基于动态光散射原理，样品分散在样品池中，通过激光照射到样品上，光电检测器在 90°角检测样品颗粒布朗运动造成的散射光强随时间的波动，再通过相关器进行自相关运算得出样品的自相关曲线，结合数学方法得到颗粒的扩散系数，进一步利用斯托克斯 - 爱因斯坦方程得到样品的粒度分布结果。基本性能...

技术参数: 产品介绍 B eNano90纳米粒度分析仪是基于动态光散射原理，样品分散在样品池中，通过激光照射到样品上，光电检测器在 90°角检测样品颗粒布朗运动造成的散射光强随时间的波动，再通过相关器进行自相关运算得出样品的自相关曲线，结合数学方法得到颗粒的扩散系数，进一步利用斯托克斯 - 爱因斯坦方程得到样品的粒度分布结果。基本性能指标 1、粒径检测(动态光散射法) 粒径范围 0.3 nm - 15 μm* 最小样品量最小3μL，常规1ml（可订制其它容量）* 检测角度 90° 粒径算法 Cumula
技术参数: 快、中、慢多模式，最快25 ns采样，最多 4000通道，10 11 动态线性范围
技术参数: BeNano动静态流动模式（Flow Mode）是将纳米粒度及Zeta电位仪同一个分离前端（FFF、GPC/SEC）相连接。分离前端可以根据尺寸将样品进行分离，依次流出。通过检测每个流出组分的动态光散射信号和静态光散射号，并结合分离前端的示差折光RI或者紫外UV信号，得到高分辨率且不依赖于计算模型的粒径分布、分子量分布信息。

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表面电荷/Zeta 电位分析仪丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号 BeNano Zeta 电位分析仪

BeNano Zeta 电位分析仪

BeNa no Zeta 电位分析仪是丹东百特仪器公司开发的测量颗粒体系 Zeta 电位的光学检测系统。BeNano Zeta 系统基于电泳光散射原理，样品分散在样品池中，在样品池两端施加一个电场，通过激光照射到电场中的样品上，光电检测器在 12°角检测样品颗粒电泳运动造成的散射光的多普勒频移，进而得到体系的 Z...

技术参数: 产品介绍 BeNa no Zeta 电位分析仪是丹东百特仪器公司开发的测量颗粒体系 Zeta 电位的光学检测系统。BeNano Zeta 系统基于电泳光散射原理，样品分散在样品池中，在样品池两端施加一个电场，通过激光照射到电场中的样品上，光电检测器在 12°角检测样品颗粒电泳运动造成的散射光的多普勒频移，进而得到体系的 Zeta 电位信息。基本性能指标 1、Zate电位测试 Zeta范围无实际限制原理相位分析光散射PALS 电泳迁移率范围 > ±20 μ.cm/V.s 电导率范围 0 -
技术参数: BeNa no Zeta 电位分析仪是丹东百特仪器公司开发的测量颗粒体系 Zeta 电位的光学检测系统。BeNano Zeta 系统基于电泳光散射原理，样品分散在样品池中，在样品池两端施加一个电场，通过激光照射到电场中的样品上，光电检测器在 12°角检测样品颗粒电泳运动造成的散射光的多普勒频移，进而得到体系的 Zeta 电位信息。
技术参数: 快、中、慢多模式，最快25 ns采样，最多 4000通道，10 11 动态线性范围
技术参数: 样品的Zeta电位和粒径对于分散液介质环境具有强烈的依赖性，尤其是环境pH，不但影响Zeta电位的大小，而且会影响颗粒体系的带电符号。BAT-1自动滴定仪与BeNano系列连用，内置三个高精度滴定泵和一个样品输送泵，具有样品搅拌能力，可以对于样品的粒径和Zeta电位进行自动化的酸碱滴定测试，具有测试效率高、精确定量、重复性好、结果不依赖于操作者等特点。由于盛放样品的样品管可抛弃，避免了交叉污染的风险。

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表面电荷/Zeta 电位分析仪丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号 BeNano 180 纳米粒度分析仪

BeNano 180 纳米粒度分析仪

是丹东百特仪器公司开发的采用背向散射技术用于检测纳米颗粒粒度及其分布的光学检测系统。它基于动态光散射原理，样品分散在样品池中，通过激光照射到样品上，光电检测器在背向 173°角检测样品颗粒布朗运动造成的散射光强随时间的波动，再通过相关器进行自相关运算得出样品的自相关曲线，结合数...

技术参数: 产品介绍 BeNano 180 纳米粒度分析仪是丹东百特仪器公司开发的采用背向散射技术用于检测纳米颗粒粒度及其分布的光学检测系统。它基于动态光散射原理，样品分散在样品池中，通过激光照射到样品上，光电检测器在背向 173°角检测样品颗粒布朗运动造成的散射光强随时间的波动，再通过相关器进行自相关运算得出样品的自相关曲线，结合数学方法就可以得到颗粒的扩散系数，进一步利用斯托克斯 - 爱因斯坦方程就可以得到样品的粒度结果。基本性能指标 1、粒径检测粒径范围 0.3 nm - 10 μm* 最小样品量
技术参数: 快、中、慢多模式，最快25 ns采样，最多 4000通道，10 11 动态线性范围
技术参数: BeNano动静态流动模式（Flow Mode）是将纳米粒度及Zeta电位仪同一个分离前端（FFF、GPC/SEC）相连接。分离前端可以根据尺寸将样品进行分离，依次流出。通过检测每个流出组分的动态光散射信号和静态光散射号，并结合分离前端的示差折光RI或者紫外UV信号，得到高分辨率且不依赖于计算模型的粒径分布、分子量分布信息。

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表面电荷/Zeta 电位分析仪丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号 BeNano 90 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪

BeNano 90 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪

BeNano 90 Zeta 纳米粒度及Zeta电位分析仪是BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光学检测系统。该系统中集成了动态光散射 DLS、电泳光散射 ELS 和静态光散射技术 SLS，可以准确地检测颗粒的粒径及粒径分布、Zeta 电位、高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛地应用于化...

技术参数: 产品介绍 BeNano 90 Zeta 纳米粒度及Zeta电位分析仪是BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光学检测系统。该系统中集成了动态光散射 DLS、电泳光散射 ELS 和静态光散射技术 SLS，可以准确地检测颗粒的粒径及粒径分布、Zeta 电位、高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛地应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。基本性能指标 1、粒径检测粒径范围 0.3 nm - 15 μm* 最小样品量最小3μL，常规1ml（可
技术参数: BeNano 90 Zeta 纳米粒度及Zeta电位分析仪是BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光学检测系统。该系统中集成了动态光散射 DLS、电泳光散射 ELS 和静态光散射技术 SLS，可以准确地检测颗粒的粒径及粒径分布、Zeta 电位、高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛地应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。
技术参数: 快、中、慢多模式，最快25 ns采样，最多 4000通道，10 11 动态线性范围
技术参数: BeNano动静态流动模式（Flow Mode）是将纳米粒度及Zeta电位仪同一个分离前端（FFF、GPC/SEC）相连接。分离前端可以根据尺寸将样品进行分离，依次流出。通过检测每个流出组分的动态光散射信号和静态光散射号，并结合分离前端的示差折光RI或者紫外UV信号，得到高分辨率且不依赖于计算模型的粒径分布、分子量分布信息。

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表面电荷/Zeta 电位分析仪丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号 BeNano 180 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪

BeNano 180 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪

是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光学检测系统。该系统中集成了背向动态光散射 DLS、电泳光散射 ELS 和静态光散射技术 SLS，可以准确地检测颗粒的粒径及粒径分布、Zeta 电位、高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛地...

技术参数: 产品介绍 BeNano 180 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光学检测系统。该系统中集成了背向动态光散射 DLS、电泳光散射 ELS 和静态光散射技术 SLS，可以准确地检测颗粒的粒径及粒径分布、Zeta 电位、高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛地应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。基本性能指标 1、粒径检测粒径范围 0.3 nm - 10 μm* 最小样品量最小40μL（可订
技术参数: BeNano 180 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光学检测系统。该系统中集成了背向动态光散射 DLS、电泳光散射 ELS 和静态光散射技术 SLS，可以准确地检测颗粒的粒径及粒径分布、Zeta 电位、高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛地应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。
技术参数: 快、中、慢多模式，最快25 ns采样，最多 4000通道，10 11 动态线性范围
技术参数: BeNano动静态流动模式（Flow Mode）是将纳米粒度及Zeta电位仪同一个分离前端（FFF、GPC/SEC）相连接。分离前端可以根据尺寸将样品进行分离，依次流出。通过检测每个流出组分的动态光散射信号和静态光散射号，并结合分离前端的示差折光RI或者紫外UV信号，得到高分辨率且不依赖于计算模型的粒径分布、分子量分布信息。

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表面电荷/Zeta 电位分析仪丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号 BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及Zeta电位分析仪

BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及Zeta电位分析仪

是BeNano90+BeNano 180+BeNano Zeta三合一的顶级光学检测系统。该系统中集成了背向+90°动态光散射 DLS、电泳光散射ELS和静态光散射技术SLS，可以准确地检测颗粒的粒径及粒径分布、Zeta电位、高分子和蛋白体系的分...

技术参数: 产品介绍 BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及Zeta电位分析仪是BeNano90+BeNano 180+BeNano Zeta三合一的顶级光学检测系统。该系统中集成了背向+90°动态光散射 DLS、电泳光散射ELS和静态光散射技术SLS，可以准确地检测颗粒的粒径及粒径分布、Zeta电位、高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。基本性能指标 1、粒径检测粒径范围 0.3 nm - 15 μm* 样品量
技术参数: BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及Zeta电位分析仪是BeNano90+BeNano 180+BeNano Zeta三合一的顶级光学检测系统。该系统中集成了背向+90°动态光散射 DLS、电泳光散射ELS和静态光散射技术SLS，可以准确地检测颗粒的粒径及粒径分布、Zeta电位、高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。
技术参数: 快、中、慢多模式，最快25 ns采样，最多 4000通道，10 11 动态线性范围
技术参数: BeNano动静态流动模式（Flow Mode）是将纳米粒度及Zeta电位仪同一个分离前端（FFF、GPC/SEC）相连接。分离前端可以根据尺寸将样品进行分离，依次流出。通过检测每个流出组分的动态光散射信号和静态光散射号，并结合分离前端的示差折光RI或者紫外UV信号，得到高分辨率且不依赖于计算模型的粒径分布、分子量分布信息。

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表面电荷/Zeta 电位分析仪丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号 BeNano 180 Zeta Max 纳米粒度及Zeta电位分析仪

BeNano 180 Zeta Max 纳米粒度及Zeta电位分析仪

BeNano 180 Zeta Max 纳米粒度及Zeta电位仪是丹东百特仪器有限公司，新推出的表征纳米体系特性的顶级光学检测系统。该系统中集成了动态光散射DLS、电泳光散射ELS、静态光散射SLS以及透射光检测技术，可以准确地检测颗粒的粒径及粒径分布、Zeta电位、高分子和蛋白体系的分子量、液体的折射率以及颗粒...

技术参数: 产品介绍 BeNano 180 Zeta Max 纳米粒度及Zeta电位仪是丹东百特仪器有限公司，新推出的表征纳米体系特性的顶级光学检测系统。该系统中集成了动态光散射DLS、电泳光散射ELS、静态光散射SLS以及透射光检测技术，可以准确地检测颗粒的粒径及粒径分布、Zeta电位、高分子和蛋白体系的分子量、液体的折射率以及颗粒物浓度等参数，可广泛应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究、质量分析和质量控制。基本性能指标 1、粒径检测(动态光散射法) 粒径范围 0.3 nm - 15
技术参数: BeNano 180 Zeta Max 纳米粒度及Zeta电位仪是丹东百特仪器有限公司，新推出的表征纳米体系特性的顶级光学检测系统。该系统中集成了动态光散射DLS、电泳光散射ELS、静态光散射SLS以及透射光检测技术，可以准确地检测颗粒的粒径及粒径分布、Zeta电位、高分子和蛋白体系的分子量、液体的折射率以及颗粒物浓度等参数，可广泛应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究、质量分析和质量控制。
技术参数: 快、中、慢多模式，最快25 ns采样，最多 4000通道，10 11 动态线性范围
技术参数: BeNano动静态流动模式（Flow Mode）是将纳米粒度及Zeta电位仪同一个分离前端（FFF、GPC/SEC）相连接。分离前端可以根据尺寸将样品进行分离，依次流出。通过检测每个流出组分的动态光散射信号和静态光散射号，并结合分离前端的示差折光RI或者紫外UV信号，得到高分辨率且不依赖于计算模型的粒径分布、分子量分布信息。

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