
MXF-2400
快速、稳定的多道同时型,深受钢铁有色水泥等工业制造行业认可。Multi-Channel X-Ray Fluorescence Spectrometer。FACTORY LAB 多道X射线荧光光谱仪 型:从主元素到杂质元素,可同时无损分析36种元素
- 型号/名称
- MXF-2400
细胞、分子、生物制药、培养与成像
显微镜、成像系统、光学平台与光学测量
消解、萃取、浓缩、纯化、研磨与进样
加热、恒温、干燥、制冷、水浴、烘箱与培养箱
真空系统、泵、阀、气体、流量与液体处理
材料表征、热分析、力学、粒度、表面和物性测试
天平、搅拌、摇床、清洗、灭菌、工作台和常规设备
半导体、电子测量、电源、电池、探针台与微纳加工
实验室工程、配套系统、家具、管路与辅助系统
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快速、稳定的多道同时型,深受钢铁有色水泥等工业制造行业认可。Multi-Channel X-Ray Fluorescence Spectrometer。FACTORY LAB 多道X射线荧光光谱仪 型:从主元素到杂质元素,可同时无损分析36种元素

对外部电源要求较同类仪器低:-外部电压允许波动220V±10% -接地电阻十分宽泛≤30Ω。①X射线管上照射方式: 避免样品粉尘对X射线管窗口的污染 ②每个通道真空全密封,更小化降低污染风险 ③电路板密封保护,特殊散热,拒绝粉尘污染 ④全新设计的真空管路粉尘吸附装置: 避免粉尘进入真空泵和电磁阀

凝聚了岛津长期培育的高超技术与全新科技,具有荧光分析所追求的优越精度和操作简便性,出类拔萃的测定精度与操作简便、崭新设计的新软件『LabSolutions RF』,满足用户各种测定需求。
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基于傅立叶变换红外光谱的塑料分析专用系统。Fourier Transform Infrared Spectrophotometer Plastic Analysis System

全新单四极杆型气相色谱质谱联用仪GCMS-QP2020 NX以强劲的性能优势,智能化的分析软件,专属性的数据库和多种分析系统,多方面扩展您的实验能力,适用于各个领域苛刻的分析需求。

三种smart技术构筑起Smart MRM功能,提供更准确、更节约成本、更易操作的三重四极杆型气相色谱质谱联用仪GCMS-TQ8040 NX。

搭载全新增益检测器,配合全时三重降噪技术,为您提供“阿克级”定量分析。Triple Quadrupole Gas Chromatograph Mass Spectrometer

岛津制作所生产试验机已经有100多年的悠久历史,能够让Autograph取得进一步发展的即是 系列。为客户提供出色试验结果是岛津制作所孜孜不倦追求的目标。而今,业界高级别的新型试验机 的诞生实现了这一目标
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是测量用X射线CT系统,可用于对样件内部结构尺寸的测量。X射线测量CT系统。测量用X射线CT系统。“新维度” 测量。是测量用X射线CT系统,可用于对样件内部结构尺寸的测量。本机除采用性能卓越的高分辨率大视野检出器、(与本司以往产品相比) X射线有效发射率提升约3倍的新型X射线发生装置以及便于操作的新软件外,还通过空调系统维持设备内部温度恒定、采用

新研发的控制软件Xseeker 可操作性强,数据处理量超出普通水平。清晰的图像、强大的处理量,从产品研发、质量评估中的细微观察到加工现场的检查,可满足用户的诸多使用要求。

为搭载90kV微焦点X射线发生装置和高分辨率平板检测器的垂直照射型X射线装置。与旧机型(SMX-1000 Plus)相比,画质有了大幅改善,广受好评的操作性也得到了进一步提升。在操作性提升的同时,载物台移动速度、检测器捕获速度也有提高,可大幅缩短检查时间。实现透视检查作业的效率化。CT单元(选配)也简化了操作流程,操作性更佳。

是一款坚直照射型x射线检查设备,配备了岛津生产的微焦点x射线发生器和高分辦率平板探测器。通过高清晰度和宽动态范围图像,可以观察到细微的内部结构和缺陷。此外,可以简单快速地进行透视/CT模式切换,根据工作要求实施多种观察。Xslicer SMX-6010所覆盖的检查从体积不断缩小的电子元件到密度日益提高的多层实装基板。

BGA·CSP的气泡·裂纹·接合状态。Xslicer SMX-1010 该设备具有清晰的图像和简洁的操作,可提高检查效率,也可以倾斜观察。Xslicer SMX-1010能够连续检查大尺寸基板和托盘上的部件

动态颗粒图像分析仪可用于颗粒形状,粒度以及数量浓度的分析。Dynamic Particle Image Analysis System。动态颗粒图像分析仪可用于颗粒形状,粒度以及数量浓度的分析

粉状原料的粒度分布对药物、化妆品、食品、充电电池和其他成品的性能有重大影响,是质量控制的重要指标。Laser Diffraction Particle Size Analyzer

岛津EPMA在保持了一贯的高灵敏度·高精度·高分辨率的基础上,又新增了简单·易懂的操作性能,将电子探针功能发挥至极致。Electron Probe Microanalyzer

从SEM观察条件到1μA量级,在各种束流条件下都拥有优越空间分辨率的场发射电子光学系统。Electron Probe Microanalyzer。“The Grand EPMA” 诞生

原子力显微镜(AFM)是在样品表面用微小的探针进行扫描,通过高倍率观察三维形貌和局部物理特性的显微镜总称。Scanning Probe Microscope/Atomic Force Microscope

扫描探针显微镜/原子力显微镜,由宏入微,顺手随心。Scanning Probe Microscope/Atomic Force Microscope。自动观察 自动完成光路调整、扫描参数设定、图像处理扫描

集样品全自动传输、全自动分析、智能数据采集处理于一体,体现了便捷性。Imaging X-Ray Photoelectron Spectrometer。X射线光电子能谱,也被称为ESCA(化学分析用电子能谱),是一种几乎不受样品形态限制的表面分析技术,可提供元素及元素化学态信息

差示扫描量热仪(DSC)是材料测试必不可少的工具,此类仪器广泛应用于材料研发、生产及质控。DSC作为质控仪器方法的趋势仍在继续增加。
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