多束系统JEOL型号 JIB-PS500iJIB-PS500i 双束加工观察系统为原子级分辨率透射电镜观察而设计的用于制备各种高质量样品的FIB-SEM系统。JIB-PS500i提供三种协助TEM样品制备的解决方案,是最适用样品制备和分析的FIB-SEM系统查看详情