TFXRD Lab
高分辨率X射线衍射（HRXRD）与X射线反射（XRR）系统，可实现非图案化外延薄膜的厚度、密度、表面/界面粗糙度、成分分布、应变、弛豫状态及倒易空间映射（RSM）的多维度表征。系统具备全晶圆映射能力，可覆盖直径达300mm的晶圆，适用于半导体制造的近厂（Near-Fab）应用场景。
- 产品线
- Semiconductors
XRTmicron (Lab)
X射线形貌（XRT）成像系统，可针对功率电子、光电子及5G/6G通信领域的核心半导体材料（碳化硅（SiC）、氮化镓（GaN）、砷化镓（GaAs）、磷化铟（InP）、氧化镓（Ga₂O₃））开展单晶缺陷可视化表征，支持直径达300mm的晶圆测试。
- 产品线
- Semiconductors、X-ray Topography (XRT)
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XtaLAB Synergy-ED
一款新型全集成电子衍射仪，用于测量亚微米级晶体，支持从数据采集到晶体结构确定的体系化工作流程。产品线：Single Crystal、Electron Diffraction
- 产品线
- Single Crystal、Electron Diffraction
Spectroquant Prove 100 plus UV/VIS 分光光度计
Spectroquant Prove 100 plus 面向主要使用 Spectroquant 测试套件或进行可见光测量的日常分析场景，属于 Prove plus 系列分光光度计。
- Catalogue Number
- 173026 / 1.73026.0001
- Measuring technology
- VIS Spectrophotometer
- Spectral bandwidth
- 4 nm
- Test kits
- Pre-programmed for over 200 Spectroquant Test Kits
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等离子体分析飞行时间质谱仪PP-TOFMS
等离子体分析飞行时间质谱仪 (PP-TOFMS)可分析固体材料中化学成分随深度的分布,分析速度快，应用领域广, 是材料科学家理想的加工工具
- 型号/名称
- 等离子体分析飞行时间质谱仪PP-TOFMS
GD-Profiler 2™辉光放电光谱仪
辉光放电光谱仪通过等离子体溅射，逐层剥蚀得到样品中各元素随深度的分布，元素的检测范围广，多种功能的开发帮助在不同的应用领域中都能发挥作用
- 型号/名称
- GD-Profiler 2™辉光放电光谱仪
UVISEL PLUS椭圆偏振光谱仪
UVISEL Plus采用光弹调制晶体，测试过程中无任何移动部件，能够提供更好的稳定性和信噪比。光谱范围从190nm到2100nm。多种配置可供选择满足不同的需求。
- 型号/名称
- UVISEL PLUS椭圆偏振光谱仪
拉曼光纤探头
光纤耦合拉曼探头设计紧凑，坚固耐用，适用于多种应用，具有极高的灵活性。借助于可选配的集成摄像头，用户可以在拉曼分析之前精确定位感兴趣的区域。也可以采用浸入式探头和非接触式光学元件。
- 型号/名称
- 拉曼光纤探头
集装箱试验间解决方案
HORIBA 是完整测试方案的提供者，可以按照客户要求提供发动机、电机、传动系和动力总成测试台架的交钥匙解决方案。搭建交钥匙台架的一种可能情况是实现 HORIBA 测试设备集成在一个集装箱测试试验室。
- 型号/名称
- 集装箱试验间解决方案
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