材料表征、热分析、力学、粒度、表面和物性测试设备
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提交选型需求可用于最大200毫米晶圆表面污染分析的TXRF光谱仪 产品线:Semiconductors、Total Reflection XRF (TXRF)
可用于最大300毫米晶圆表面污染分析的TXRF光谱仪 产品线:Semiconductors、Total Reflection XRF (TXRF)
可用于最大300毫米晶圆表面污染分析的TXRF-VPD光谱仪 产品线:Semiconductors、Total Reflection XRF (TXRF)

凭借卓越性能与双波长特性,完美支持高通量化学晶体学实验室,及化学与蛋白质晶体学X射线设施 产品线:Protein、Single Crystal、Small Molecule

配置自动进样器实现无人值守的数据采集,提升研究效率并标准化工作流程 产品线:Protein、Single Crystal、Small Molecule
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热重-差热分析(TG-DTA)是一种联用技术,通常被称为同步热分析 产品线:Thermal Analysis、STA (TG-DSC, TG-DTA)
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热重-差热分析 (TG-DTA) 联用技术,通常被称为同步热分析 (STA) 产品线:Thermal Analysis、STA (TG-DSC, TG-DTA)
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水蒸气发生器:通过设定相对湿度,即可实现对潮湿气氛下的样品进行热分析 产品线:Thermal Analysis、Other Thermal Analysis
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