多功能激光拉曼光谱仪 RMP-500系列
RMP-500 系列，是一款通过将高性能分光器与激光、样品室、显微镜、检测器等自由组合，以满足客户不同应用需求的构思新颖的激光拉曼光谱仪。●通过新开发的高性能分光器获取高品质光谱
- 产品名称
- 多功能激光拉曼光谱仪 RMP-500系列
- 型号
- RMP-500 系列
- 产地
- 日本
- 产品分类
- 激光拉曼光谱仪
PR-1w 掌上拉曼光谱仪
PR-1w是一款对用户较友好的拉曼光谱仪，每个用户都可以在收到后立即使用，并且在制备开始后仅需2到3分钟即可进行测量。●所有光学器件都内置在一个紧凑的外壳中。●外壳紧凑，但能够测量3000 至 200 cm-1
- 产品名称
- PR-1w 掌上拉曼光谱仪
- 型号
- PR-1w
- 产地
- 日本
- 产品分类
- 激光拉曼光谱仪
紫外／可见／近红外分光光度计
V-700 系列对性能及操作性进行了升级，并采用了专用的硬件/软件配置，以保障装置处于良好的测定状态。V-700 系列的iRM 型采用彩色液晶触摸屏，配有专用控制模块，使用户可以简单明了地进行操作
- 产品名称
- 紫外／可见／近红外分光光度计
- 型号
- V-700 系列
- 产地
- 日本
- 产品分类
- 紫外可见近红外分光光度计
显微紫外可见近红外分光光度计
MSV-5000系列是在紫外到近红外的广域范围内，对微小样品和微小领域进行透过·反射测定的显微分光光度计。可应用于小型设备的透过·反射特性的评价，半导体的带隙测定和膜厚测定，以及功能性结晶的光学特性评价等多种领域
- 产品名称
- 显微紫外可见近红外分光光度计
- 型号
- MSV-5000
- 产地
- 日本
- 产品分类
- 紫外可见近红外分光光度计
荧光光谱仪/近红外荧光光谱仪
FP-8050 系列具备高灵敏度以及广域对应测量功能。搭载自动高次光滤光片，是一款具有最高波长扫描速度，可实现高速3D 光谱测定的高性能荧光光谱仪。除PC 控制外，FP-8250 和FP-8350 还拥有操作性优越的遥控模块搭载iRM 型
- 产品名称
- 荧光光谱仪/近红外荧光光谱仪
- 型号
- FP-8050 系列
- 产地
- 日本
- 产品分类
- 荧光光谱仪
全自动数字旋光仪
P-2000采用日本药典规定的钠灯以及汞灯光源，利用原子光谱线保证高精度测定。主机可同时搭载两种光源并通过软件进行切换。在操作方面，备有PC控制型以及iRM型。●搭载光源、滤光片、附件的自动识别功能
- 产品名称
- 全自动数字旋光仪
- 型号
- P-2000 系列
- 产地
- 日本
- 产品分类
- 旋光仪
高速液相色谱系统
●其输液泵PU-4285耐压性可达130MPa。数据处理软件 ChromNAV Ver.2 色谱工作站。●ChromNAV Ver.2 是集HPLC控制以及数据处理功能为一体的色谱数据系统
- 产品名称
- 高速液相色谱系统
- 型号
- LC-4500
- 产地
- 日本
- 产品分类
- 色谱仪
超临界流体色谱
系统示例。系统。超临界流体方法探索系统。半制备。规格参数 品牌 JASCO 产品名称 型号 LC-4300 产地 日本 产品分类 色谱仪
- 产品名称
- 超临界流体色谱
- 型号
- LC-4300
- 产地
- 日本
- 产品分类
- 色谱仪
溶出仪
在DT-810的高温度精度的圆形恒温水槽内，最大可内置8个溶出杯。采用容器和轴的位置独自定心功能，确保实验的可靠性。符合JP，USP，EP的规定，满足FDA 推荐的仪器校正要求
- 产品名称
- 溶出仪
- 型号
- DT-810
- 产地
- 日本
- 产品分类
- 溶出仪
JEM-Z200MF 无磁场透射电子显微镜
一款无磁场物镜的电子显微镜，可以在不向样品施加强磁场的情况下实现高分辨率观察。结合高次像差校正器，可以实现原子级分辨率成像。
JEM-3300 CRYO ARM™ 300 II 场发射冷冻透射电子显微镜
CRYO ARM™ 300 II 是一款低温冷冻透射电子显微镜，专门用于观察如蛋白质等对电子束敏感的样品，可进行单颗粒分析、断层扫描和MicroED等实验。与上一代CRYO ARM™ 300相比，具有更高的稳定性、效率和易用性。此外，该系统集多种功能于一体，可以处理从筛样到数据采集的整个过程，从而更灵活地为客户实...
JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型电子显微镜
JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代产品，该设备在性能上有了进一步的提高，无论采用怎样的加速电压都能获得超高空间分辨率图像和高灵敏度的元素分析。
- HAADF-STEM像 : 0.053nm电子枪
- 冷场发射电子枪
- 标准
- 300kV，80kV
JEM-Z300FSC 场发射冷冻电子显微镜
场发射冷冻电子显微镜JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300)配备了冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器(Ω能量过滤器)、侧插式液氮冷却样品台和自动样品交换系统，能够在冷冻低温下观察生物大分子。样品交换系统内最多可以存储12个样品，可以任意取出和交换一个或数个样品，能灵活地进行测试排序。
JEM-ACE200F 高效分析型电子显微镜
JEM-ACE200F将JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技术整合在一起，实现了高度稳定性和高分辨率，以精炼的外观设计呈现。该设备做成了操作流程菜单，按照该菜单，操作人员即使不直接操作设备也能采集到数据。
JEM-Z200FSC 场发射冷冻电子显微镜
场发射冷冻电子显微镜 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200标配冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器（Ω能量过滤器）、液氮冷却样品台和12位自动样品更换系统。新设计的Ω能量过滤器与无孔位相板的完美组合，进一步提高了生物样品的衬度。
- X
- Motor驱动（移动范围±1mm) Y:Piezo元件（移动范围 ± 0.5um) Z:Motor驱动（移动范围 ± 0.2mm)
JEM-ARM200F NEOARM 原子级分辨率透射电子显微镜
“NEOARM” 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪（Cold-FEG）和全新的高阶球差校正器（ASCOR）。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下，均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统，可以自动进行快速准确的像差校正。新STEM成像技术（e-ABF法）可以更加简...
- STEM HAADF 图像
- 70 pm (200 kV)、100 pm (80 kV) TEM 信息分辨率：100 pm (200 kV)、110 pm (80 kV)
- STEM
- NEO ASCOR HOAC*2、TEM：CETCOR with DSS*3
- STEM
- NEO ASCOR HOAC*
- TEM
- CETCOR with DSS*
Monochromated ARM200F 原子级分辨率单色化透射电子显微镜
装配有双Wien-filter 型能量单色器的JEM-ARM200F，实现了原子尺度下超高能量分辨EELS分析。“NEOARM”配备的新型球差校正器ASCOR能够校正高阶像差（即6重像散，目前阻碍透射电镜分辨率进一步提高的最大障碍
JEM-F200 场发射透射电子显微镜
以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。
JEM-2100Plus 透射电子显微镜
JEM-2100Plus电子显微镜，不仅拥有信誉卓著的JEM-2100 的电子光学系统，还增加了最新的控制系统，大幅提高了可操作性。多功能电子显微镜JEM-2100Plus性能优越，操作方便，简明易懂，在材料、医学、生物学等多个研究领域提供优异的解决方案。
- *1
- 订购时请指定物镜种类。*2 : 为选配件。
JEM-120i 透射电子显微镜
120kV透射电镜多用于生物、高分子等软材料领域。这次开发的新型电子显微镜JEM-120i以“紧凑的”，“易于使用的”和“可扩展的”为理念，设备外观焕然一新，而且从操作到维护都很简单化。
JEM-1400Flash 透射电子显微镜
JEM-1400Flash配备了高灵敏度sCMOS相机、超广视野的蒙太奇系统以及光学显微镜图像的联动功能，是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射电子显微镜。
JED-2300T 能谱仪
JED-2300T AnalysisStation是以“图像观察和分析”为基本理念的TEM/EDS集成系统。在分析数据过程中，自动采集电镜主机的倍率、加速电压等参数，进行数据管理。
EM-05500TGP TEM断层扫描系统
TEM断层扫描系统采用独特算法的软件，实现了从获取连续倾斜图像到三维重构整个过程的自动化。精细的三维重构系统 ！ TEM断层扫描系统实现了从获取连续倾斜图像到三维重构整个过程的自动化
LazEdge 激光扫描电镜系统
“LazEdge”是一款将扫描电子显微镜与激光技术相结合的仪器，能够在电镜样品室内进行激光加工。该系统能够在高速、大面积加工基础上制备出高质量的截面样品，并将其无缝转移至后续分析中，如SEM观察、元素分析、晶体取向分析，整个过程无需暴露在外部环境。
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