产品目录

JSM-IT810 场发射扫描电子显微镜

JSM-IT810系列FE-SEM结合多功能性和高空间分辨率，实现了自动化操作。内置无需编码的成像和EDS分析自动化功能，使工作流程更加流畅高效。此外，还新增了一些功能，确保所有SEM用户获得高质量数据和更好的用户体验。FE-SEM的操作从没有像JSM-IT810系列这么简单。

JSM-IT710HR 场发射扫描电子显微镜

JSM-IT710HR是JEOL 以 “任何人都能轻松拍摄高分辨率图像的SEM” 为理念而推出的HR*系列的第四代产品。操作的自动化和观察性能的提高，可以实现用户从可以看见到对未知的探索。

JSM-IT210 扫描电子显微镜

JSM-IT210是日本电子制造的最小巧的落地型扫描电子显微镜。5轴马达驱动使得操作更安心和快速；而且因为装有“Simple SEM”，只需选好微区就能自动观察和分析。JSM-IT210是一款小巧的可无人操作的新一代SEM。

JSM-IT510 InTouchScope™ 扫描电子显微镜

扫描电子显微镜 (SEM) 不仅是开展科研工作所必不可少的工具，对于需要品控的制造工厂也是不可或缺的。在这些场景中，用户需要重复执行相同的观察操作，因此快速完成这些操作有助于提高工作效率。JSM-IT510 新增的“简单 SEM”功能，用户可将 SEM 观察所需的“手动重复操作交给它”，从而更高效、更轻松地完成 ...

高真空模式

3.0nm（30kV），15.0nm（1.0kV）；低真空模式：4.0nm（30kV、BED）

大型全对中样品台 X: 125mm Y

100mm Z：80mm 倾斜：-10~90o 旋转：360o

JCM-7000 NeoScope™ 台式扫描电子显微镜

JCM-7000是以"谁都可以操作的SEM/EDS"为理念的台式扫描电子显微镜，标配Zeromag、Live analysis、Live 3D功能。新设置了中文操作界面！(选配件)

JED-2300 能谱仪

JED-2300 Analysis Station Plus 是以“图像观察和分析“ 为基本理念的TEM/EDS集成系统。通过与SEM的马达驱动样品台联动使用，可以进行大范围的观察和分析。EDS通过检测被电子束激发出的样品特征X射线，确定样品含有的元素及成分比，可以进行微区的点分析、线分析及面分析。

JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪

JXA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同时，追求每个人都能简单快速地使用好仪器。该仪器能更加有效地进行观察分析和操作，是更先进的一体化集成FE-EPMA。

WDS

Be＊1 / B to U, EDS: Be to U

波长范围WDS

0.087 to 9.3 nm 能量范围EDS: 20 keV

WDS

最多5个可选, EDS: 1个

JXA-iSP100 电子探针显微分析仪

JXA-iSP100在保持高局部微量元素分析性能的同时，追求每个人都能简单快速地使用好仪器。该仪器能更加有效地进行观察分析和操作，是更先进的一体化EPMA。

WDS

Be＊1 / B to U, EDS: Be to U

波长范围WDS

0.087 to 9.3 nm 能量范围EDS: 20 keV

WDS

最多5个可选, EDS: 1个

JAMP-9510F 场发射俄歇电镜

俄歇电镜采用了一种以法国科学家 P. Auger命名的分析技术。它结合了俄歇电子能谱（AES）、离子溅射和二次电子成像，能够确定固体表面的二维和三维元素分布。该仪器的空间分辨率非常高。

JPS-9030 光电子能谱仪

采用全新设计的用户界面，支持日语环境操作，实现了"任何人皆可简单快速使用"的目标。此外，标准配置了Kaufman型蚀刻离子源和双阳极，尽管是通用XPS，却具备高温加热系统、气体簇离子源等广泛的扩展性能。

软X射线光谱仪

( SXES:Soft X-Ray Emission Spectrometer ) 通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度Ｘ射线CCD相机，实现了极高的能量分辨率。和EDS一样可以并行检测，并且能以0.3eV(费米边处Al-L基准)的极高能量分辨率进行分析，超过了WDS的能量分辨率。

获取能量范围

衍射光栅JS50XL的能区50-170eV

获取能量范围

衍射光栅JS50XL的能区70-210eV

EPMA的WDS接口

NO.2接口（正面右侧）

EPMA

JXA-8530F, JXA-8230, JXA-8500F, JXA-8200

JIB-PS500i 双束加工观察系统

为原子级分辨率透射电镜观察而设计的用于制备各种高质量样品的FIB-SEM系统。JIB-PS500i提供三种协助TEM样品制备的解决方案，是最适用样品制备和分析的FIB-SEM系统

JIB-4700F 双束加工观察系统

随着先进材料构造的微细化和制造过程的复杂化，形貌观察、元素分析和晶体分析等的评估技术也对分辨率和精度有了更高的要求。为了满足这些需求，JEOL推出新一代双束加工观察系统JIB-4700F。该设备的SEM镜筒中采用了超级混合圆锥形物镜、GB模式和in-lens检测器系统，在1kV低加速电压下,实现了1.6nm的保证...

计算机控制6轴测角样品台 X

50 mm, Y: 50mm, Z: 1.5 ～ 40 mm, R: 360°, T: -5 ～ 70°, FZ: -3.0 ～ +3.0 mm

JMS-S3000 NewSpiralTOF™ MALDI-TOFMS 基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪

JMS-S3000采用独家Spiral TOF离子光学系统，是具有超高分辨率、高灵敏度的MALDI-TOFMS*—。该仪器超越了以往的性能，引领分析技术的最前沿，并满足合成高分子、材料科学和生物大分子等各类领域不断变化的研究需求。

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha 高性能气相色谱飞行时间质谱仪

Alpha 带您进入质谱的新世界。JMS-T2000GC “ AccuTOF™ GC-Alpha ”，是一款具有卓越性能和易操作的终极GC-MS。

JMS-T100LP AccuTOF™ LC-Express 飞行时间质谱仪

此前获得重大成功的 AccuTOF™ LC 系列迎来了它的第四代产品 AccuTOF™ LC-Express，这是一款坚固耐用、易于维护的高通量质谱仪，该产品有多种电离方法，可有效提高效率。JEOL 独特的电离技术 DART™（实时直接分析）可以快速提供精确的质量信息。可配置 LC/MS 电喷雾电离 (ESI) ...

DART 实时直接分析离子源

DART(Direct Analysis in Real Time实时直接分析) 是无需样品制备的、能进行快速分析的新型离子源。DART于2003年诞生于日本电子美国公司（JEOL USA, Inc. )的质谱应用实验室，是敞开式离子化技术中最早被发明和商品化的电离方法，2005年2月获得匹茨堡金奖 pittco...

JMS-Q1600GC UltraQuad™ SQ-Zeta 气相色谱-四极杆质谱仪

全新 JMS-Q1600GC UltraQuad™ SQ-Zeta 是融合 JEOL 50 年 MS 技术及专业经验的第六代 JEOL 高端气相色谱四极杆质谱仪 ( GC-QMS )。SQ-Zeta 具有多种高级功能，可满足各种测量及分析需求：从定量应用（ 如环境样品、水质控制、农用化学品 ）到定性应用（ 如材料...

JMS-TQ4000GC 气相色谱三重四极杆质谱仪

JEOL 的专有技术实现了高速和高灵敏度分析。JMS-TQ4000GC 的开发凝聚了 JEOL 高端 GC-MS 开发过程中所形成的所有技术和经验。

JMS-800D Dioxin（二恶英）分析用高分辨质谱仪

MS-800D UltraFOCUS™ 是进行超低浓度分析的最佳选择，采用高分辨选择离子监测模式（HRSIM）适合二恶英及相关化合物如:二恶英、多氯联苯(PCB's)、多溴联苯醚（PBDE'S) 或滥用药物的分析。

S/N 200以上 (4σ)

2,3,7,8-TCDD 100 fg（R=10,000，HRSIM）

PC 操作系统

Microsoft Windows®7 Professional。

备注

Windows为美国微软公司在美国、日本及其它国家的注册商标或商标。

JNM-ECZL 系列 核磁共振谱仪

ECZ Luminous（JNM-ECZL 系列）是配备最先进数字和高频技术的核磁共振波谱仪。高度集成的STS（智能收发系统）采用高速、高精度数字高频控制电路，实现了谱仪的进一步微型化和高可靠性。它能够进行高磁场和固态核磁共振测试，同时保留了传统低场溶液核磁共振谱仪的尺寸。全新多频驱动系统支持在标准配置下进行多共...

液氮液氦回收系统

是一种能够大幅抑制NMR超导磁体中液氦、液氮蒸发的装置。该系统有助于减少NMR设备管理中制冷剂的相关问题，例如在定期的制冷剂再填充中调整测量日程，以及担心制冷剂供应不稳定等。

JES-X3系列 电子自旋共振谱仪

JES-X3系列电子自旋共振谱仪，经过进一步改良低噪音耿氏振荡器，达到了极高的灵敏度。由于人们已经认识到样品中极少量的未成对电子会在很大程度上左右着材料的性能，因此对ESR的测试灵敏度也就有了更高的要求。JEOL RESONANCE改进了低噪声的耿氏振荡器，使灵敏度比原来提高了30%。

IB-19540CP截面抛光仪 IB-19550CCP冷冻截面抛光仪

截面抛光仪CP是为电子显微镜制备截面样品的仪器，可以在短时间内制备出高质量截面。新GUI界面和物联网（IoT）的引入进一步提高了操作的简便性。