
蔡司Crossbeam 350 FIB-SEM
蔡司Crossbeam 350将蔡司Ion-sculptor FIB切割技术与蔡司Gemini 1成像和可变压力技术相结合,能够支持广泛的应用,包括不导电、磁性以及不兼容高真空的样品
显微镜、成像系统、光学平台与光学测量设备
材料表征、热分析、力学、粒度、表面和物性测试设备
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蔡司Crossbeam 350将蔡司Ion-sculptor FIB切割技术与蔡司Gemini 1成像和可变压力技术相结合,能够支持广泛的应用,包括不导电、磁性以及不兼容高真空的样品

蔡司Crossbeam 550结合了Gemini 2 SEM成像功能与蔡司Ion-sculptor FIB切割功能,可快速去除材料并提供出色的表面细节。其专为要求严苛的成像和分析应用而打造,能以可重复且易于操作的方式支持复杂工作流,适用于三维断层扫描、微纳加工和TEM薄片制备等高级应用

可助您轻松实现亚纳米级分辨率的成像。出色的成像和分析技术更使FE-SEM(场发射扫描电子显微镜)如虎添翼。我们采用创新的电子光学系统和全新样品仓设计,不仅操作更加简便,用途更加灵活多样,还可为您带来更高的图像质量。无需水浸物镜即可拍摄低于1 kV的亚纳米级图像。探索蔡司Gemini电子光学系统的三种设计:

蔡司Sigma系列产品集场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)技术与良好的用户体验于一体,可轻松实现成像和分析程序,提高工作效率。您可以将其用于新材料和颗粒的质量监测,或用于生物和地质样品的研究
Most digestions complete in under 6 minutes (including cooldown)

Thermo Scientific 是一套超高分辨率的分析 聚焦离子束扫描电子显微镜 (FIB-SEM) 系统,可为包括磁性和非导电材料在内的各种样品提供出色的样品制备与 3D 表征性能

Extreme nanoscale precision for imaging and TEM sample preparation

Dynamische Temperiersysteme Unistate bis -45°C Unistate bis -60°C Unistate bis -120°C Unistate bis +425°C Unimotive Umwälzkühler Umwälzkühler bis 2.5 kW Umwä...

Dynamische Temperiersysteme Unistate bis -45°C Unistate bis -60°C Unistate bis -120°C Unistate bis +425°C Unimotive Umwälzkühler Umwälzkühler bis 2.5 kW Umwä...

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