
Micro-Z CL
即使是硫含量未知的样品,也可以通过测量硫的X射线荧光强度来进行校正,以获得更可靠的定量性能。无需使用昂贵的氦气,因为样品和光学室之间的分隔装置可使光学元件处于真空状态
- Quantitative Analysis with XRF
- Mining Applications 2026年8月17日 - 2026年8月17日 Webinar 网站
材料表征、热分析、力学、粒度、表面和物性测试设备
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即使是硫含量未知的样品,也可以通过测量硫的X射线荧光强度来进行校正,以获得更可靠的定量性能。无需使用昂贵的氦气,因为样品和光学室之间的分隔装置可使光学元件处于真空状态

波长色散 X 射线荧光硫(S)分析仪。根据 ASTM D2622-10 测量石油燃料中的超低硫(ULS)。理学 波长色散 X 射线荧光(WDXRF)仪器专为柴油、汽油和其他燃料的超低硫分析而设计,其新颖的设计可同时测量硫的谱峰强度和背景强度

多元素同步分析型波长色散 X 射线荧光光谱仪。Simultix15 结构紧凑、智能化程度高,是一款功能强大的元素分析工具,在许多工业领域都表现出卓越的性能。40 多年来,理学 Simultix 同步波长色散 X 射线荧光(WDXRF)光谱仪系统已被广泛用作元素分析工具,用于钢铁和水泥等要求高通量和高精度的行业的过程控制

高功率台式扫描型波长色散X射线荧光光谱仪。固体、液体、粉末、合金和薄膜的元素分析。与同类 XRF仪器相比,理学 兼具高分辨率与紧凑设计。作为一款高功率台式扫描型波长色散 X 射线荧光(WDXRF)光谱仪,能够分析几乎所有材料中从氧(O)到铀(U)的元素,其独特之处在于同时实现低拥有成本(COO)、高分辨率和低检测...

用于工业应用的扫描型波长色散 X 射线荧光光谱仪。理学 通过定量测定粉末和固体样品中从 Be 到 Cm 的广泛范围元素,提供快速的元素工业质量控制。这款新型扫描波长色散 X 射线荧光光谱仪采用理学独特的 X 射线管上方配置,建立在成功的 ZSX Primus 系列平台之上

上照式扫描型波长色散 X 射线荧光光谱仪。固体、液体、粉末、合金和薄膜的元素分析。作为一款上照式扫描型波长色散 X 射线荧光(WDXRF)光谱仪,理学 可对多种类型样品进行快速定量分析,测定从铍(Be)到锔(Cm)的主量元素与微量元素,且对标准品的依赖极低

下照式顺序型波长色散 X 射线荧光光谱仪。液体、合金和镀层金属的全面精准 X 射线分析。这款下照式高性能光谱仪可对液体、合金和镀层金属等样品进行全面精准的分析。ZSX Primus IV𝒾 波长色散 X 射线荧光光谱仪配备业界最薄的 30 微米标准铍(Be)窗,结合卓越的分析性能与灵活配置,为复杂样品分析提供理...

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