
Simultix 15
多元素同步分析型波长色散 X 射线荧光光谱仪。Simultix15 结构紧凑、智能化程度高,是一款功能强大的元素分析工具,在许多工业领域都表现出卓越的性能。40 多年来,理学 Simultix 同步波长色散 X 射线荧光(WDXRF)光谱仪系统已被广泛用作元素分析工具,用于钢铁和水泥等要求高通量和高精度的行业的过程控制
细胞、分子、生物制药、培养与成像
显微镜、成像系统、光学平台与光学测量
消解、萃取、浓缩、纯化、研磨与进样
加热、恒温、干燥、制冷、水浴、烘箱与培养箱
真空系统、泵、阀、气体、流量与液体处理
材料表征、热分析、力学、粒度、表面和物性测试
天平、搅拌、摇床、清洗、灭菌、工作台和常规设备
半导体、电子测量、电源、电池、探针台与微纳加工
实验室工程、配套系统、家具、管路与辅助系统
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多元素同步分析型波长色散 X 射线荧光光谱仪。Simultix15 结构紧凑、智能化程度高,是一款功能强大的元素分析工具,在许多工业领域都表现出卓越的性能。40 多年来,理学 Simultix 同步波长色散 X 射线荧光(WDXRF)光谱仪系统已被广泛用作元素分析工具,用于钢铁和水泥等要求高通量和高精度的行业的过程控制

高功率台式扫描型波长色散X射线荧光光谱仪。固体、液体、粉末、合金和薄膜的元素分析。与同类 XRF仪器相比,理学 兼具高分辨率与紧凑设计。作为一款高功率台式扫描型波长色散 X 射线荧光(WDXRF)光谱仪,能够分析几乎所有材料中从氧(O)到铀(U)的元素,其独特之处在于同时实现低拥有成本(COO)、高分辨率和低检测限(LLD)

用于工业应用的扫描型波长色散 X 射线荧光光谱仪。理学 通过定量测定粉末和固体样品中从 Be 到 Cm 的广泛范围元素,提供快速的元素工业质量控制。这款新型扫描波长色散 X 射线荧光光谱仪采用理学独特的 X 射线管上方配置,建立在成功的 ZSX Primus 系列平台之上

上照式扫描型波长色散 X 射线荧光光谱仪。固体、液体、粉末、合金和薄膜的元素分析。作为一款上照式扫描型波长色散 X 射线荧光(WDXRF)光谱仪,理学 可对多种类型样品进行快速定量分析,测定从铍(Be)到锔(Cm)的主量元素与微量元素,且对标准品的依赖极低

下照式顺序型波长色散 X 射线荧光光谱仪。液体、合金和镀层金属的全面精准 X 射线分析。这款下照式高性能光谱仪可对液体、合金和镀层金属等样品进行全面精准的分析。ZSX Primus IV𝒾 波长色散 X 射线荧光光谱仪配备业界最薄的 30 微米标准铍(Be)窗,结合卓越的分析性能与灵活配置,为复杂样品分析提供理想平台,实现优异的轻元素(低 Z 值)检测限

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