
Wafer XRD 300
凭借 这一出众快速、高通量、卓越精度的晶圆计量系统,全面工厂自动化又迈进了新的一步,随时可以集成到您的生产线上。是一款高速 X射线衍射 系统,能够分析 300 毫米的晶圆,提供晶体取向、几何特征(如直径或缺口位置)等关键数据
- 样品处理量
- 每月处理超 10000 片晶圆
- Geometry
- 根据要求

凭借 这一出众快速、高通量、卓越精度的晶圆计量系统,全面工厂自动化又迈进了新的一步,随时可以集成到您的生产线上。是一款高速 X射线衍射 系统,能够分析 300 毫米的晶圆,提供晶体取向、几何特征(如直径或缺口位置)等关键数据
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